[发明专利]一种半导体器件的自动化测试装置

权利要求书

1.一种半导体器件的自动化测试装置，包括机箱（1），其特征在于：所述机箱（1）一侧设有导电插座（9），所述机箱（1）上侧内部设有传导组件（8）和电流输出控制组件（5），所述机箱（1）一侧固定连接有测温箱（2），所述测温箱（2）上侧固定安装有数显温度计（4），所述机箱（1）靠近测温箱（2）的一侧固定连接有水箱（3），所述水箱（3）内部设有导温组件（7），所述机箱（1）内部固定安装有固定组件（6），所述机箱（1）上侧内部固定安装有传导组件（8），所述机箱（1）内部固定安装有两个电动推杆（610），两个所述电动推杆（610）输出端分别固定连接有对接组件（611），所述对接组件（611）包括有支撑架（6115），所述支撑架（6115）上侧固定连接有四个固定板（6114），其中两个固定板（6114）内侧固定连接有套环（6112），另外两个所述固定板（6114）内侧固定连接有固定管（6116），所述套环（6112）远离固定管（6116）的一侧通过弹簧活动安装有固定环（6113），所述固定环（6113）内部固定连接有第一导电杆（6111）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件的自动化测试装置，其特征在于：所述电流输出控制组件（5）包括有滑动变阻器（502）和分线器（508），所述滑动变阻器（502）的滑块上侧固定连接有拨杆（501），所述滑动变阻器（502）一侧设有第一接口（503），所述滑动变阻器（502）另一侧设有第二接口（504）。

3.根据权利要求2所述的一种半导体器件的自动化测试装置，其特征在于：所述第二接口（504）固定连接有第三导线（514），所述分线器（508）固定安装于机箱（1）内部，所述分线器（508）一侧固定连接导电插座（9），所述导电插座（9）远离导电插座（9）的一侧设有第一连接座（506），所述第一连接座（506）固定连接第二导线（507）一端。

4.根据权利要求3所述的一种半导体器件的自动化测试装置，其特征在于：所述导温组件（7）包括有潜水泵（705），所述第二导线（507）另一端固定连接潜水泵（705），所述潜水泵（705）放置于水箱（3）内，所述分线器（508）内部设有第二连接座（513），所述第二连接座（513）远离导电插座（9）的一侧内部通过弹簧电性连接有圆头卡钮（512），所述第二连接座（513）远离导电插座（9）的一侧电性连接有第一齿轮（509），所述第一齿轮（509）活动安装于分线器（508）一侧，所述分线器（508）一侧固定安装有第一电机（511），所述第一电机（511）输出端固定连接有第二齿轮（510），所述第二齿轮（510）啮合连接有第一齿轮（509），所述第一齿轮（509）远离第二连接座（513）的一侧电性连接有第一导线（505），所述第一导线（505）内部设有火线（5051），所述第一接口（503）固定连接火线（5051）一端，所述第一导线（505）内部设有零线（5052）。

5.根据权利要求1所述的一种半导体器件的自动化测试装置，其特征在于：所述固定组件（6）包括有活动板（601），所述活动板（601）活动连接在机箱（1）内部，所述活动板（601）外侧通过弹簧活动安装有两个顶杆（604），两个所述顶杆（604）远离活动板（601）的一端分别固定连接有限位板（602），所述限位板（602）靠近顶杆（604）的一侧表面固定连接有顶板（603），所述活动板（601）远离顶板（603）的一侧表面固定连接有支撑板（606）。

6.根据权利要求5所述的一种半导体器件的自动化测试装置，其特征在于：所述支撑板（606）上侧内部通过弹簧活动安装有四个卡板（607），四个所述卡板（607）内侧分别活动连接有制冷片（608），所述制冷片（608）下侧活动连接支撑板（606），所述顶板（603）穿过活动板（601）活动连接制冷片（608），所述制冷片（608）远离顶板（603）的一侧设有两个导电槽（609），所述支撑板（606）两侧分别设有齿轮，所述机箱（1）内部固定安装有两个第二电机（613），两个所述第二电机（613）输出端分别固定连接有第三齿轮（612），两个所述第三齿轮（612）分别啮合连接两个齿轨（605）。