[发明专利]A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器及校正方法

权利要求书

1.A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，包括有外壳、时间延时块、超声波收发组件声阻尼块及超声波探伤仪连接接头；超声波收发组件包括压电陶瓷片和反射片，压电陶瓷片和反射片相对设置于时间延时块两端，反射片用于反射超声波，压电陶瓷片用于在受到脉冲激励时向时间延时块发射超声波及接收经反射片反射回的超声波；或者所述超声波收发组件包括相对设置于时间延时块两端的两压电陶瓷片，一压电陶瓷片作为发射端用于在受到脉冲激励时向时间延时块发射超声波，另一压电陶瓷片作为接收端用于接收经时间延时块输出的超声波；时间延时块用于传输超声波以产生固定的时间延时，声阻尼块设置于压电陶瓷片背面用于消除压电陶瓷片背部反射，所述超声波探伤仪连接接头用于连接超声波探伤仪，并与压电陶瓷片电连接。

2.如权利要求1所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，还包括有探头连接接头及转换开关，探头连接接头用于连接超声波探头，并与超声波探伤仪连接接头电连接，转换开关用于控制超声波探伤仪连接接头与压电陶瓷片和探头连接接头中的一个导通。

3.如权利要求1或2所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，还配置有若干微型试块，不同材料的微型试块分别用于与其相同材料的待探伤工件的探伤。

4.如权利要求1所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，所述时间延时块侧面设置有杂波消除块，用于消除时间延时块周围的无用超声波。

5.如权利要求1所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，所述压电陶瓷片与超声波连接接头之间电连接有匹配电路。

6.如权利要求2所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，所述超声波探伤仪连接接头和探头连接接头分别通过电缆与超声波探伤仪和超声波探头连接。

7.如权利要求1所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，所述反射片的反射面形成光滑平面，且反射片与时间延时块采用不同材料制成。

8.如权利要求1所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，其特征在于，所述声阻尼块包围压电陶瓷片的背面和侧面设置，以使压电陶瓷片脉冲变窄。

9.A型超声波探伤仪时间基线校正方法，其特征在于，采用如权利要求1至8任一所述的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器，包括以下步骤：

①将超声波探伤仪通过超声波探伤仪连接接头与A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器连接，开启超声波探伤仪开关；超声波探伤仪发射特定频率的电脉冲激励压电陶瓷片，压电陶瓷片通过逆压电效应向时间延时块发射超声波，超声波经反射片反射回压电陶瓷片，压电陶瓷片通过正压电效应产生电脉冲信号；或者超声波探伤仪发射特定频率的电脉冲激励作为发射端的压电陶瓷片，作为发射端的压电陶瓷片通过逆压电效应向时间延时块发射超声波，超声波经时间延时块传输后到达作为接收端的压电陶瓷片，作为接收端的压电陶瓷片通过正压电效应产生电脉冲信号；超声波经多次反射或传输后，超声波探伤仪会接收到间隔时间相等的回波脉冲信号，此时即可开始进行时间基线校正，当始波在零位时，利用超声波探伤仪的声程键，扩展或压缩脉冲位置，把第一个回波脉冲前沿调到指定位置，以调整超声波探伤仪时间基线与探测距离的对应比例关系；

②将超声波探头与超声波探伤仪电连接，将超声波探头放在微型试块探测面的对应探测距离位置，开启超声波探伤仪，超声波探伤仪发射特定频率的电脉冲信号，并接收超声波探头的回波脉冲信号，超声波探伤仪收到回波脉冲后，利用超声波探伤仪的水平位移键，把回波脉冲前沿移到与探测距离的特定比例对应标度处，以使超声波探头的入射点为检测的起始位置，即完成待探伤材料探测距离与超声波探伤仪标度以特定比例对应，调整结束。

10.如权利要求9所述的A型超声波探伤仪时间基线校正方法，其特征在于：所述步骤①中，在开启超声波探伤仪开关前，还包括将超声波探头与探头连接接头连接，并将转换开关拨动至使超声波探伤仪连接接头与压电陶瓷片相导通的位置，以使超声波探伤仪与压电陶瓷片电连接；所述步骤②中，通过将转换开关拨动至使超声波探伤仪连接接头与探头连接接头相导通的位置，使超声波探头与超声波探伤仪电连接。