[发明专利]A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器及校正方法在审
申请号: | 202111272221.0 | 申请日: | 2021-10-29 |
公开(公告)号: | CN113916992A | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
发明(设计)人: | 吴学成 | 申请(专利权)人: | 吴学成 |
主分类号: | G01N29/30 | 分类号: | G01N29/30 |
代理公司: | 苏州中合知识产权代理事务所(普通合伙) 32266 | 代理人: | 赵路路 |
地址: | 213000 江苏省常州市武*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 超声波 探伤 时间 基线 快速 校正 辅助 方法 | ||
本发明涉及A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器及校正方法,A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器包括外壳、时间延时块、超声波收发组件、声阻尼块及超声波探伤仪连接接头,超声波收发组件包括相对设置于时间延时块两端的压电陶瓷片和反射片,或两压电陶瓷片,压电陶瓷片用于在受到脉冲激励时向延时块发射超声波或接收经传输的超声波,反射片用于反射超声波,时间延时块用于传输超声波以产生固定的时间延时,声阻尼块用于消除压电陶瓷片背部反射,超声波探伤仪连接接头与压电陶瓷片电连接。使用本发明只需进行时间扩展和水平位移两步即可完成时基线校正,调整速度快、精度高,可提高超声波探伤仪的探伤定位精度,使用方便,适用范围广。
技术领域
本发明涉及超声波探伤技术领域,特别是一种A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器及校正方法。
背景技术
超声波检测是目前无损检测领域中广泛使用的一种手段,A型超声波探伤使用最为广泛。A型超声探伤是利用超声波在被检测材料传播中,遇到缺陷(声阻抗不同的异质界面)产生反射,反射信号被仪器接收,根据发射信号与接收信号的时间来确定缺陷的位置。由于仪器电路及超声波探头的保护膜、波形转换模块、声透镜、延时块、耦合层等均会产生时间延时,因此,在大多数情况下,探伤仪与探头连接后,探头的起始位时间与仪器的时间零点是有差距的。因此,在进行A型超声波探伤工作前,需要对仪器进行时间基线的调整。
调整时间基线的传统方法是使用探伤仪、探头和商品试块组合,对试块反射波在仪器上的位置进行调整。现有技术中,往往由厂家提供误差尺寸,在调整时根据误差尺寸进行调整,但由于仪器电路老化或超声波探头表面磨损等原因,会导致时间延时改变,进而导致厂家提供的误差尺寸无法使用。因此,调整过程中往往要使用多个功能键反复进行调整,才能使仪器的时间基线与探伤距离形成对应比例关系。此种方法存在以下缺点:一是调整时间长,熟练人员需要几分钟,不熟练人员需要十几分钟甚至更长;二是需要用商品试块进行调整,而商品试块的材质与被探伤材料的材质有差异,有的声速差异几十米/秒,造成时间校正误差大;三是商品试块价格高,重量大,体积大,给野外和高空作业带来不便;四是一些特殊用途、特殊形状的探头,因为没有合适的商品试块,无法利用试块进行较为精确的校正。
发明内容
本发明的主要目的是克服现有技术的缺点,提供一种调整速度快、精度高,可提高超声波探伤仪的探伤定位精度,使用方便快捷,适用范围广的A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器及校正方法。
本发明采用如下技术方案:
A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器,包括有外壳、时间延时块、超声波收发组件声阻尼块及超声波探伤仪连接接头;超声波收发组件包括压电陶瓷片和反射片,压电陶瓷片和反射片相对设置于时间延时块两端,反射片用于反射超声波,压电陶瓷片用于在受到脉冲激励时向时间延时块发射超声波及接收经反射片反射回的超声波;或者所述超声波收发组件包括相对设置于时间延时块两端的两压电陶瓷片,一压电陶瓷片作为发射端用于在受到脉冲激励时向时间延时块发射超声波,另一压电陶瓷片作为接收端用于接收经时间延时块输出的超声波;时间延时块用于传输超声波以产生固定的时间延时,声阻尼块设置于压电陶瓷片背面用于消除压电陶瓷片背部反射,所述超声波探伤仪连接接头用于连接超声波探伤仪,并与压电陶瓷片电连接。
进一步地,所述A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器还包括有探头连接接头及转换开关,探头连接接头用于连接超声波探头,并与超声波探伤仪连接接头电连接,转换开关用于控制超声波探伤仪连接接头与压电陶瓷片和探头连接接头中的一个导通。
进一步地,所述A型超声波探伤仪时间基线快速校正辅助器还配置有若干微型试块,不同材料的微型试块分别用于与其相同材料的待探伤工件的探伤。
进一步地,所述时间延时块侧面设置有杂波消除块,用于消除时间延时块周围的无用超声波。
进一步地,所述压电陶瓷片与超声波连接接头之间电连接有匹配电路。
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