[发明专利]测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种测试用例生成方法，其特征在于，包括：

获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待处理测试用例模板还包括子用例标识。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括一个子用例标识，则根据所述时间窗参数，确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

将所述初始时间戳上限确定为所述目标时间戳上限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳上限确定所述目标时间戳下限；或者

将所述初始时间戳下限确定为所述目标时间戳下限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳下限确定所述目标时间戳上限。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括至少两个子用例标识，则根据所述时间窗参数，分别确定所述至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和至少两个计算公式，分别确定满足所述至少两个子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，得到与所述至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待处理测试用例模板，包括：

遍历预先配置的测试用例模板，将当前遍历到的测试用例模板确定为所述待处理测试用例模板；

在生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例之后，还包括：

将所述时间窗测试用例添加到用例列表中。

7.一种测试用例生成装置，其特征在于，包括：

用例模板获取模块，被配置为执行获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

时间窗参数获取模块，被配置为执行从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

时间戳确定模块，被配置为执行根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

测试用例生成模块，被配置为执行根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现如权利要求1至6任一项所述的测试用例生成方法。

9.一种计算机可读存储介质，当所述计算机存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得所述电子设备能够执行如权利要求1至6任一项所述的测试用例生成方法。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序或计算机指令，其特征在于，所述计算机程序或计算机指令被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的测试用例生成方法。