[发明专利]测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本公开关于一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待处理测试用例模板，待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；从待测试的配置参数中获取与归因链路类型对应的时间窗参数；根据初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。本公开实现了根据待处理待测用例模板和配置参数自动生成对应的时间窗测试用例，提高了测试用例的生成效率，减少了人为错误，可以提高生成的测试用例的准确性，提高了测试用例生成的灵活性和便捷性。

技术领域

本公开涉及软件测试技术，尤其涉及一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

归因系统是互联网产品对用户拉新、促活效果评价的重要手段。针对归因系统的软件质量保证也是极具挑战性的。抽象来说，归因是利用用户激活数据和广告点击数据进行匹配，给出广告效果的归因评价。

目前的归因系统的软件测试的工作量较大，测试用例的生成效率较低，而且人为计算容易出现错误，且不便于进行迭代，灵活性较差。

发明内容

本公开提供一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决相关技术中测试用例生成效率低、容易出现错误、灵活性差的问题。本公开的技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试用例生成方法，包括：

获取待处理测试用例模板，所述待处理测试用例模板包括用例标识、归因链路类型、初始时间戳和时间条件；

从待测试的配置参数中获取与所述归因链路类型对应的时间窗参数；

根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限；

根据所述待处理测试用例模板、所述目标时间戳上限和所述目标时间戳下限，生成与所述用例标识对应的时间窗测试用例。

可选的，所述待处理测试用例模板还包括子用例标识。

可选的，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括一个子用例标识，则根据所述时间窗参数，确定所述子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述初始时间戳包括初始时间戳上限和初始时间戳下限；

根据所述初始时间戳和所述计算公式，确定满足所述子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

将所述初始时间戳上限确定为所述目标时间戳上限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳上限确定所述目标时间戳下限；或者

将所述初始时间戳下限确定为所述目标时间戳下限，并根据所述计算公式和所述目标时间戳下限确定所述目标时间戳上限。

可选的，根据所述初始时间戳和所述时间窗参数，确定满足所述时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，包括：

若所述用例标识下包括至少两个子用例标识，则根据所述时间窗参数，分别确定所述至少两个子用例标识下的时间条件所对应的计算公式；

根据所述初始时间戳和至少两个计算公式，分别确定满足所述至少两个子用例标识所对应的时间条件的目标时间戳上限和目标时间戳下限，得到与所述至少两个子用例标识分别对应的目标时间戳上限和目标时间戳下限。

可选的，所述获取待处理测试用例模板，包括：