[发明专利]物联网设备无接触调试系统及方法有效

专利信息
申请号: 202111294033.8 申请日: 2021-11-03
公开(公告)号: CN114050987B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 何修文;董泉;张忠伟;范俊财;施悰聪 申请(专利权)人: 猫岐智能科技(上海)有限公司
主分类号: H04L43/12 分类号: H04L43/12;H04L43/50;G16Y30/00
代理公司: 上海大邦律师事务所 31252 代理人: 王松
地址: 200062 上海市普陀*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 联网 设备 接触 调试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种物联网设备无接触调试系统,其特征在于,所述物联网设备无接触调试系统包括:调试主机及至少一物联网设备;

所述物联网设备设有微处理器及调试机构,所述调试机构包括发射单元及接收单元;所述微处理器的IO引脚连接所述调试机构;

所述物联网设备还包括发送控制模块及接收控制模块;所述发送控制模块通过所述调试机构的发射单元,将数据编码后发送至所述调试主机;

所述接收控制模块通过所述调试机构的接收单元,将所述调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据;

所述发送控制模块采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码,控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位;

所述接收控制模块通过脉冲间隔解析出对应的数据,得到原始信息;

所述发射单元与接收单元为同时具备发射功能及接收功能的部件;

所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯,所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯;或者,所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。

2.一种物联网设备无接触调试方法,其特征在于,所述物联网设备无接触调试方法包括:

通过调试机构的发射单元,将数据编码后发送至调试主机;

通过调试机构的接收单元,将调试主机发送的数据解码,从而获取所述调试主机发送的数据;

将数据编码后发送至调试主机步骤包括:采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码,控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位;

将调试主机发送的数据解码步骤包括:通过脉冲间隔解析出对应的逻辑值,然后根据获取的至少一逻辑值得到原始信息;

所述发射单元与接收单元为同时具备发射功能及接收功能的部件;所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯,所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯;或者,所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。

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