[发明专利]物联网设备无接触调试系统及方法

说明书

本发明揭示了一种物联网设备无接触调试系统及方法，所述物联网设备无接触调试系统包括调试主机及至少一物联网设备；物联网设备设有微处理器及调试机构，调试机构包括发射单元及接收单元；微处理器的IO引脚连接所述调试机构；物联网设备还包括发送控制模块及接收控制模块；发送控制模块通过调试机构的发射单元，将数据编码后发送至调试主机；接收控制模块通过调试机构的接收单元，将调试主机发送的数据解码，从而获取所述调试主机发送的数据。本发明既能实现无线调试功能，而且不需使用WIFI、蓝牙等价格昂贵、连接复杂的无线外设；具有无接触、开发简单、适用于所有物联网设备的特点；而且也能实现物联网设备到主机的双向通信功能。

技术领域

本发明属于物联网技术领域，涉及一种物联网设备调试系统，尤其涉及一种物联网设备无接触调试系统及方法。

背景技术

传统的物联网设备调试，分为”无线”、”有线”两种方式。

有线调试方式使用串口或USB等连接物联网设备与主机。由于芯片一般会在片内集成串口等外设使得这种方式几乎不用外接任何转换器件即可实现。但是由于需要接线，所以一般只适用于研发调试阶段。

无线调试方式使用WI FI、蓝牙、BLE等连接物联网设备与主机。需要芯片在片内集成WI FI、蓝牙、BLE等外设；否则就要外接无线转换器件。价格昂贵，而且连接复杂。

有鉴于此，如今迫切需要设计一种新的物联网设备调试方式，以便克服现有调试方式存在的上述至少部分缺陷。

发明内容

本发明提供一种物联网设备无接触调试系统及方法，可在不需要使用价格昂贵、连接复杂的无线外设的情况下，实现所有物联网设备的无接触调试。

为解决上述技术问题，根据本发明的一个方面，采用如下技术方案：

一种物联网设备无接触调试系统，所述物联网设备无接触调试系统包括：调试主机及至少一物联网设备；

所述物联网设备设有微处理器及调试机构，所述调试机构包括发射单元及接收单元；所述微处理器的IO引脚连接所述调试机构；

所述物联网设备还包括发送控制模块及接收控制模块；所述发送控制模块通过所述调试机构的发射单元，将数据编码后发送至所述调试主机；

所述接收控制模块通过所述调试机构的接收单元，将所述调试主机发送的数据解码，从而获取所述调试主机发送的数据。

作为本发明的一种实施方式，所述发送控制模块采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码，控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。

作为本发明的一种实施方式，所述接收控制模块通过脉冲间隔解析出对应的数据，得到原始信息。

作为本发明的一种实施方式，所述发射单元与接收单元为同时具备发射功能及接收功能的部件。

作为本发明的一种实施方式，所述发射单元为红外LED发射灯或可见光LED发射灯，所述接收单元为红外LED接收灯或可见光LED接收灯；或者，所述调试机构为同时具备发射及接收功能的红外LED灯或可见光LED灯。

根据本发明的一个方面，采用如下技术方案：一种物联网设备无接触调试方法，所述物联网设备无接触调试方法包括：

通过调试机构的发射单元，将数据编码后发送至调试主机；

通过调试机构的接收单元，将调试主机发送的数据解码，从而获取所述调试主机发送的数据。

作为本发明的一种实施方式，将数据编码后发送至调试主机步骤包括：采用脉冲间隔的方式对每个数据进行编码，控制所述发射单元开关的时间间隔来表示不同的逻辑位。