[发明专利]一种用于芯片串行接口的测试方法、装置和芯片有效
| 申请号： | 202111298088.6 | 申请日： | 2021-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN113986600B | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 宁振海;李德建;谭浪;贺龙龙;张彦欣;黎金旺 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国网江苏省电力有限公司信息通信分公司;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 赵敏岑;高英英 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 串行 接口 测试 方法 装置 | ||
1.一种用于芯片串行接口的测试方法，其特征在于，包括
设置错误时序，通过该错误时序发送数据至待测芯片；
根据该待测芯片的回复数据确定该待测芯片串行接口的稳定性；
所述错误时序为位宽调节、采样点数据调节、位翻转中的至少一种；
根据待测芯片的容错阈值范围设置所述错误时序；
所述根据该待测芯片的回复数据验证该待测芯片串行接口的稳定性，包括：
所述待测芯片的回复数据与发送的数据相同，则该待测芯片稳定；
所述待测芯片的回复数据与发送的数据不同，则该待测芯片不稳定；
所述位宽调节包括增加和/或减少时序中至少一位的位宽；
所述采样点数据调节包括更改采样沿附近的数据线。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
所述位翻转包括时序中至少一位从0置1或从1置0。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
所述错误时序通过芯片串行接口发送数据至待测芯片，所述芯片串行接口为I2C、UART、SPI、CAN、USB中的一种。
4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，
所述待测芯片的回复数据包括回复的数据值、回复的数据量。
5.一种用于芯片串行接口的测试装置，其特征在于，包括根据权利要求1-4中任一项权利要求所述的用于芯片串行接口的测试方法进行测试的测试模块，及主控机；
所述测试模块至少包括核心板卡；
所述主控机用于发送指示给所述测试模块；
所述测试模块用于根据所述指示测试待测芯片串行接口的稳定性；
所述核心板卡用于根据所述主控机的指示生成错误时序；
所述错误时序为位宽调节、采样点数据调节、位翻转中的至少一种；
根据待测芯片的容错阈值范围设置所述错误时序。
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，
所述测试模块还包括不少于一种子板卡及验证板；
待测芯片置于所述验证板上，所述核心板卡通过子板卡与所述验证板的待测芯片进行通信。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，
所述核心板卡还用于控制子板卡的通信方式。
8.一种芯片，其特征在于，包括：根据权利要求1-4中任一项权利要求所述的用于芯片串行接口的测试方法得到的稳定芯片。
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