[发明专利]判决电平预测方法、存储介质及SSD设备

说明书

本发明提供了一种判决电平预测方法、存储介质及SSD设备，所述方法包括：当进行数据读取时，获取存储单元的使用状态信息、读数据温度和写数据温度，读数据温度为存储单元的当前温度，写数据温度为数据写入时所述存储单元的温度；根据所述使用状态信息预测所述存储单元的判决电平；根据读数据温度和写数据温度确定判决电平补偿值，并根据所述判决电平补偿值对预测出的判决电平进行修正。本发明通过计算存储单元在跨温场景的使用状态信息并基于使用状态信息预测最优判决电平，以便在读数据时采用最优判决电平进行数据读取，有效减少由跨温读写引起的读数据的RBER，降低ECC解码器的迭代时间和相应功耗，提升了整个SSD设备的使用寿命。

技术领域

本发明涉及数据存储技术领域，尤其涉及一种判决电平预测方法、存储介质及SSD设备。

背景技术

当前计算机服务器的主流存储器件主要分为两种：HD(Hard Disk,机械硬盘)和SSD(Solid State Drive，固态硬盘)。固态硬盘和机械硬盘本质上都是用于数据存储的硬件，其本质上的区别在于其存储介质不同。传统的机械硬盘以机械磁盘为存储介质，通过磁臂和磁头、磁盘之间的机械构造进行数据存储和读取；而固态硬盘则是以NAND闪存(非易失性的存储器)作为存储介质，通过存储器内部的电荷数即cell的通断电进行数据的读取和写入进而实现数据存储。随着固态硬盘小型化以及其性价比不断提升，越来越多的企业消费者和个人消费者采用固态硬盘进行数据的存储。

如图1所示，现有SSD设备主要包含主机Host，控制器，ECC解码器和存储颗粒四个部分。控制器在接收到Host读命令后向颗粒发送读命令，其中读电平为默认判决电平。接下来，控制器将颗粒返回的读取数据发送给ECC解码器进行纠错码解码，之后将解码成功后的数据发送给Host，以上完成了一次读数据的操作。

现有技术中，采用默认判决电平(或预存判决电平)进行数据读取。然而受驻留时间和跨温读写的影响，默认判决电平和最优判决电平之间的电压差较大，导致读出的数据序列里含有大量RBER(Raw Bit Error Rate,原始错误比特数)。为纠正将这些错误比特，ECC解码器需要进行多次迭代计算，从而导致数据读取速度的降低。而且，如果RBER居高不下，一方面会明显增加读数据延迟和相应的芯片能耗；另一方面当错误比特数到达一定程度后会直接导致译码失败，使得该block被标记为坏块造成资源的浪费，缩短产品寿命。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的判决电平预测方法、存储介质及SSD设备。

本发明的一个方面，提供了一种判决电平预测方法，所述方法包括：

当进行数据读取时，获取存储单元的使用状态信息、读数据温度和写数据温度，读数据温度为存储单元的当前温度，写数据温度为数据写入时所述存储单元的温度；

根据所述使用状态信息预测所述存储单元的判决电平；

根据读数据温度和写数据温度确定判决电平补偿值，并根据所述判决电平补偿值对预测出的判决电平进行修正。

进一步地，所述使用状态信息包括等效驻留时间；

所述获取存储单元的使用状态信息、读数据温度和写数据温度包括：

查找预设的信息记录表以获取所述存储单元的写数据记录，所述写数据记录中包括存储单元的存储位置、写数据温度以及数据写入时的写数据时间；

根据所述存储位置向存储颗粒获取所述存储单元的实时温度，或获取存储颗粒当前所处工作环境的实时温度；

将存储单元的实时温度或所处工作环境的实时温度作为读数据温度，并根据当前时间、读数据温度、写数据温度和写数据时间计算从写数据时间到当前时间的等效驻留时间。