[发明专利]一种集成化参数测量装置

权利要求书

1.一种集成化参数测量装置，其特征在于，所述装置包括：

参数测量单元，所述参数测量单元包括：

环路控制子单元，其用于基于FVMI或FIMV模式向待测器件输出恒定电流或恒定电压；

电压测量子单元，其用于测量所述待测器件的电压；

电流测量子单元，其用于测量所述待测器件的电流；

第一控制器，其用于控制所述参数测量单元，还用于接收所述电压测量子单元和所述电流测量子单元的采样数据。

2.如权利要求1所述的集成化参数测量装置，其特征在于，所述环路控制子单元包括：

用于与所述第一控制器连接的串行电路接口；

用于进行数据存储的寄存器；

多个用于输出恒定电流或恒定电压的环路控制电路。

3.如权利要求2所述的集成化参数测量装置，其特征在于：

所述第一控制器还用于向所述环路控制子单元发送工作模式指令或工作参数指令；

所述第一控制器还用于读取所述环路控制子单元的所述寄存器，判断所述工作模式指令或所述工作参数指令是否接收成功，待判断接收成功后，向所述环路控制子单元发送输出指令。

4.如权利要求1所述的集成化参数测量装置，其特征在于：

所述环路控制子单元还配置有功率放大电路。

5.如权利要求1所述的集成化参数测量装置，其特征在于，所述第一控制器包括：

通信控制模块，其用于与上位机进行连接，接收所述上位机传输的控制指令；

数据处理模块，其用于对所述采样数据进行处理；

主控制器模块，其用于控制所述环路控制子单元；

测量电路控制模块，其用于控制所述电压测量子单元与所述电流测量子单元；

采样控制模块，其用于获取所述采样数据。

6.如权利要求5所述的集成化参数测量装置，其特征在于，所述第一控制器还包括：

SOC/SOPC，其用于辅助所述数据处理模块、所述主控制器模块进行控制和数据处理。

7.如权利要求1所述的集成化参数测量装置，其特征在于，所述电压测量子单元配置一电压测量计算公式；

所述电压测量计算公式为：

T_电压=V0*C/（G_电压*2^N）；其中，

G_电压为设定所述电压测量子单元的电压反馈调理电路增益，V0为所述电压测量子单元内部配置的ADC的输入量程，N为所述ADC的分辨率，C为所述ADC采集得到的码值，T_电压为电压测量值。

8.如权利要求1所述的集成化参数测量装置，其特征在于，所述电流测量子单元配置一电流测量计算公式；

所述电流测量计算公式为：

T_电流=（V0*C）/（G_电流*R*2^N）；其中，

G_电流为设定所述电流测量子单元的电流反馈调理电路增益，V0为所述电流测量子单元内部配置的ADC的输入量程，N为所述ADC的分辨率，C为所述ADC采集得到的码值，R为所述电流测量子单元内部配置的电阻的电阻值，T_电流为电压测量值。

9.如权利要求2所述的集成化参数测量装置，其特征在于，环路控制电路包括：

DAC、比较器、误差放大器、电流反馈开关和电压反馈开关。

10.如权利要求9所述的集成化参数测量装置，其特征在于，环路控制电路包括：

当所述环路控制子单元接收到工作模式设置指令时，选择电压反馈开关或电流反馈开关；

当所述环路控制子单元接收到输出参数设置指令时，根据所述输出参数设置指令中的设置DAC寄存器地址位选择DAC寄存器，并更新DAC寄存器内容；

当所述环路控制子单元接收到状态读取设置指令时，根据所述状态读取设置指令中的待读取DAC寄存器地址位选择DAC寄存器，将DAC寄存器数据读取到对应的DAC数据位。