[发明专利]显示装置和检查显示装置的缺陷的方法

说明书

公开了一种显示装置和检查显示装置的缺陷的方法，所述显示装置包括：基底，包括显示区域和与显示区域相邻的测试区域；下电极，在显示区域中设置在基底上；公共层，设置在下电极上；上电极，设置在公共层上；以及测试元件组。测试元件组包括：多个电极图案，与下电极设置在同一层中并且在测试区域中设置在基底上；测试公共层，与公共层设置在同一层中并且设置在多个电极图案上，其中，通过测试公共层限定多个开口以暴露多个电极图案中的每个电极图案的一部分；以及电极层，与上电极设置在同一层中，在测试公共层上并且通过开口与多个电极图案接触。

技术领域

实施例总体上涉及一种显示装置和一种用于检查显示装置的缺陷的方法。更具体地，公开的实施例涉及一种包括测试元件组的显示装置和一种用于检查显示装置的缺陷的方法。

背景技术

近年来，通常具有大面积且薄而轻的平板显示器(“FPD”)已被广泛用作显示装置。液晶显示器(“LCD”)、等离子体显示面板(“PDP”)、有机发光显示器(“OLED”)等被用作这样的平板显示器。

OLED可以被制造为顶部发射结构或底部发射结构。在OLED具有顶部发射结构的情况下，由于从有机发射层发射的光穿过作为上电极的阴极电极，所以期望阴极电极是透明的。因此，可以薄地沉积透明材料以使阴极电极透明。随着阴极电极的厚度减小，尽管透射率增大，但是电阻也会增大。

发明内容

在大型显示装置的情况下，由于阴极电极的面积大于小型显示装置的阴极电极的面积，因此电阻会显著增大。在这种情况下，通过形成连接到阴极电极的辅助线，可以在减小阴极电极的厚度的同时降低电阻。在这种情况下，可以执行激光钻孔工艺以将辅助线和阴极电极连接。

通常，已经使用显微镜来检查用于连接辅助线和阴极电极的开口是否被适当地形成。然而，这种方法难以精确地检查显示装置的缺陷。

实施例提供了一种包括测试元件组的显示装置。

实施例提供了一种用于检查显示装置的缺陷的方法。

根据发明的实施例，显示装置包括：基底，包括显示区域和与显示区域相邻的测试区域；下电极，在显示区域中设置在基底上；公共层，设置在下电极上；上电极，设置在公共层上；以及测试元件组。在这样的实施例中，测试元件组包括：多个电极图案，与下电极设置在同一层中并且在测试区域中设置在基底上；测试公共层，与公共层设置在同一层中并且在多个电极图案上，其中通过测试公共层限定多个开口以暴露多个电极图案中的每个的一部分；以及电极层，设置在与上电极同一层中，在测试公共层上，并且通过开口与多个电极图案接触。

在实施例中，测试元件组还可以包括：多个导电图案，在测试区域中设置在基底上。

在实施例中，显示装置还可以包括：过孔层，设置在基底和多个电极图案之间。在这样的实施例中，多个电极图案可以通过在过孔层中限定的接触孔分别电连接到多个导电图案。

在实施例中，多个导电图案可以彼此间隔开，并且多个电极图案可以彼此间隔开。

在实施例中，测试区域可以围绕显示区域的至少一部分。

在实施例中，公共层可以从显示区域延伸到测试区域，并且公共层的在测试区域中的延伸部分可以限定测试公共层。在这样的实施例中，上电极可以从显示区域延伸到测试区域，并且上电极的在测试区域中的延伸部分可以限定电极层。

在实施例中，下电极和多个电极图案可以包括彼此相同的材料。

在实施例中，下电极和多个电极图案中的每个可以具有包括氧化铟锡(“ITO”)/Ag/ITO的堆叠结构。

在实施例中，上电极和电极层可以包括彼此相同的材料。