[发明专利]液晶面板显示不良分析方法及分析系统

权利要求书

1.一种液晶面板显示不良分析方法，其特征在于，包括：

获取不良面板，所述不良面板为具有预设显示不良现象的面板；

对所述不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数；

对所述不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面，所述显示画面包括补偿显示画面及非补偿显示画面；

基于所述显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果；

根据所述显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定显示画面仿真数据；

根据所述不良检测结果及所述显示画面仿真数据确定显示不良分析策略。

2.根据权利要求1所述的显示不良分析方法，其特征在于，所述显示不良分析策略包括对所述不良面板进行透湿异常分析；

对所述不良面板进行透湿异常分析，包括以下步骤：

对所述不良面板进行烘干处理；

获取烘干处理后所述不良面板的第一显示画面；

基于所述第一显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第一不良检测结果；

根据所述第一显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定第一仿真数据；

根据所述第一不良检测结果及所述第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。

3.根据权利要求2所述的显示不良分析方法，其特征在于，在得到第一不良检测结果之后，还包括：

对所述不良面板施加主动补偿数据，所述主动补偿数据根据灰度补偿数据与补偿数据阈值之差确定；

基于主动补偿后的显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第二不良检测结果；

根据所述第一不良检测结果、所述第二不良检测结果及所述第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。

4.根据权利要求1所述的显示不良分析方法，其特征在于，所述显示不良分析策略还包括对所述不良面板进行显示屏模组异常分析；

对所述不良面板进行显示屏模组异常分析，包括以下步骤：

获取所述不良面板的第一光学图像；

判断所述第一光学图像是否存在第一特征缺陷；

在判断不存在第一特征缺陷之后，根据工程履历，对工艺及设备进行异常分析，确定不良成因，所述工程履历为所述不良面板的制备工艺过程的记录。

5.根据权利要求4所述的显示不良分析方法，其特征在于，在判断存在第一特征缺陷之后，对所述不良面板进行显示屏模组异常分析，还包括：

去除所述不良面板的封装盖板，获取位于所述封装盖板下方的至少一个电路基板；

获取所述电路基板的第二光学图像；

基于所述第二光学图像获取第二特征缺陷；

对所述第二特征缺陷进行缺陷分析，根据缺陷分析结果确定不良成因。

6.根据权利要求5所述的显示不良分析方法，其特征在于，对第二特征缺陷进行缺陷分析，包括：

对所述电路基板上的金属走线及电路元件的电气参数进行测试，根据测试结果判断不良成因是否为走线或者元件异常；其中，所述电气参数包括下述至少一项：电阻值和电压值。

7.根据权利要求5所述的显示不良分析方法，其特征在于，对第二特征缺陷进行缺陷分析，还包括：

采用预设失效分析工具对基板异物进行断面或者成分分析，根据异物分析结果判断不良成因是否为异物。

8.根据权利要求1所述的显示不良分析方法，其特征在于，根据所述不良检测结果及所述显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，包括以下步骤：

获取原始补偿数据和主动补偿数据；

根据原始补偿数据确定第一显示画面仿真数据；

根据主动补偿数据确定第二显示画面仿真数据；

根据所述第一显示画面仿真数据、所述第二显示画面仿真数据及所述不良检测结果确定显示不良分析策略。

9.根据权利要求1-8任一项所述的显示不良分析方法，其特征在于，所述预设显示不良现象为垂直线不良。

10.一种液晶面板显示不良分析系统，其特征在于，使用权利要求1-9任一项所述的显示不良分析方法，所述系统包括：

信赖性检测模块，用于获取不良面板，所述不良面板为具有预设显示不良现象的面板；

不良位置获取模块，用于对所述不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数；

补偿模块，用于对所述不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面，所述显示画面包括补偿显示画面及非补偿显示画面；

不良现象检测模块，用于基于所述显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果；

仿真模块，根据所述显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定显示画面仿真数据；

不良分析模块，用于根据所述不良检测结果及所述显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，所述显示不良分析策略包括对所述不良面板进行透湿异常分析及对所述不良面板进行显示屏模组异常分析。