[发明专利]液晶面板显示不良分析方法及分析系统

说明书

本发明公开一种液晶面板显示不良分析方法及分析系统，该方法包括：获取不良面板；对不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数；对不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面；基于显示画面对不良面板进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果；根据显示画面对应的补偿数据及不良位置参数确定显示画面仿真数据；根据不良检测结果及显示画面仿真数据确定显示不良分析策略，显示不良分析策略包括对不良面板进行透湿异常分析及对不良面板进行显示屏模组异常分析。通过整合特定显示不良现象及类型，执行对应的异常分析方法，快速查找显示不良的成因，减少显示不良解析失败的概率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板显示不良分析方法及分析系统。

背景技术

液晶面板是液晶显示器的重要组件，液晶面板的质量优劣直接关系到液晶显示器的整体性能。

在液晶面板的制备过程中，包括多个成型工艺，例如，阵列制程、彩膜制程、成盒制程及模组组装制程，任一工艺制程或者设计方面的不规范均可能导致液晶面板出现点不良、线不良或者显示亮度不均匀等显示不良问题。图1为现有的一种显示不良现象的示意图。如图1所示，在液晶面板00的显示画面中，出现沿垂直方向Y延伸的垂直暗线，垂直暗线可沿垂直方向贯穿显示画面的贯穿暗线A＇，或者，沿垂直方向Y出现部分暗线A＂。

为了降低上述显示不良问题对液晶显示器的影响，需要对制备完成的液晶面板进行检测，查找并解决引起显示不良的问题。在现有技术中，显示不良解析通常由检测人员在点屏后对不良位置进行识别和标记，再通过高倍率显微镜进行不良确认。现有技术存在以下缺陷：人工操作缺乏有效的不良成因分析技术，导致单个面板的不良解析时间较长，效率较低，此外，人为标记位置的准确度较低，影响不良成因的解析结果，且通过高倍率光学显微镜无法分析所有工艺制程中的缺陷，例如，通过人为观察难以识别模组内电路缺陷，造成不良解析失败或者解析结果不准确。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种液晶面板显示不良分析方法及分析系统，能够快速区分显示不良类型，并根据不良类型执行相应的不良分析策略，快速查找显示不良的成因，减少显示不良解析失败的概率。

为达上述目的，本发明采用以下技术方案：

第一方面，提供一种液晶面板显示不良分析方法，包括：

获取不良面板，所述不良面板为具有预设显示不良现象的面板；

对所述不良面板进行坐标检测，根据坐标检测结果确定不良位置参数；

对所述不良面板施加至少一组预设补偿数据，得到至少一个显示画面，所述显示画面包括补偿显示画面及非补偿显示画面；

基于所述显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定不良检测结果；

根据所述显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定显示画面仿真数据；

根据所述不良检测结果及所述显示画面仿真数据确定显示不良分析策略。

作为显示不良分析方法的一种优选方案，所述显示不良分析策略包括对所述不良面板进行透湿异常分析及对所述不良面板进行显示屏模组异常分析。

作为显示不良分析方法的一种优选方案，对所述不良面板进行透湿异常分析，包括以下步骤：对所述不良面板进行烘干处理；获取烘干处理后所述不良面板的第一显示画面；基于所述第一显示画面对所述不良面板进行预设显示不良现象检测，确定第一不良检测结果；根据所述第一显示画面对应的补偿数据及所述不良位置参数确定第一仿真数据；根据所述第一不良检测结果及所述第一仿真数据判断不良成因是否为水汽侵入。