[发明专利]阵列基板、掩膜板、显示装置及阵列基板的制作方法在审

专利信息
申请号: 202111395215.4 申请日: 2021-11-23
公开(公告)号: CN114122022A 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 李凯;方业周;李峰;姚磊;苏海东;王成龙;闫雷;高云;朱晓刚;杨桦;候林;孟浩 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77;G02F1/1345;G02F1/1362;G03F1/00;G03F1/70
代理公司: 北京风雅颂专利代理有限公司 11403 代理人: 李莎
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 阵列 掩膜板 显示装置 制作方法
【说明书】:

本申请提供的一种阵列基板、掩膜板、显示装置及阵列基板的制作方法,包括:衬底基板,所述衬底基板包括显示区和扇出区,所述扇出区设置有多条栅线,相邻所述栅线的间距为4.2μm至4.7μm。本申请通过将扇出区的栅线间距降低至4.2μm至4.7μm,从而将布线间距从5.5μm降低了1μm左右,相比之下降低了18%左右的间距距离。通过调整基板制作过程中的掩膜板,使扇出区的掩膜板从全透改变为半透,从而在完成光刻时,半透区域对应的金属层上还会有光刻胶保留,从而保护扇出区的金属层不会进行湿法刻蚀,从而降低了栅线的CDBias,从而降低了栅线间的间距,进而为实现更窄的边框提供了技术支持。

技术领域

本申请涉及显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板、掩膜板、显示装置及阵列基板的制作方法。

背景技术

显示装置的边框区域设置有扇出区(Fan-out区),然而,目前的Fan-out区因为内部的栅线间距(Gate Pitch)较大(5.5μm至5.7μm)导致Fan-out区的面积较大。而较大的走线排布间距必然会为窄边框的设计带来技术瓶颈,不利于发展显示装置窄边框化的潮流。

发明内容

有鉴于此,本申请的目的在于提出一种阵列基板、掩膜板、显示装置及阵列基板的制作方法。

基于上述目的,本申请提供了一种阵列基板,包括:衬底基板,所述衬底基板包括显示区和扇出区,所述扇出区设置有多条栅线,相邻所述栅线的间距为4.2μm至4.7μm。

基于同一构思,本申请还提供了一种掩膜板,包括:全透区及半透区,所述全透区与衬底基板的显示区相对应,所述半透区与所述衬底基板的扇出区相对应;

所述半透区上与栅线对应区域的宽度区间为2.2μm至2.5μm。

基于同一构思,本申请还提供了一种显示装置,包括如上所述的阵列基板。

基于同一构思,本申请还提供了一种阵列基板的制作方法,包括:

在衬底基板的扇出区上形成金属层,在所述金属层上涂覆光刻胶;

通过半透式掩膜板对所述光刻胶进行曝光,以形成光刻胶保留部分;其中,所述半透式掩膜板上对应栅线之间间隙的部分为半透区域;对应所述栅线的所述光刻胶保留部分的宽度区间为2.2μm至2.5μm;

对所述衬底基板进行干法刻蚀,去除所述半透区域对应的所述光刻胶保留部分及对应的所述金属层,以在所述衬底基板上形成所述栅线;其中,由于所述栅线对应的所述光刻胶保留部分的宽度区间为2.2μm至2.5μm,干法刻蚀后所述栅线之间的间距为4.2μm至4.7μm。

从上面所述可以看出,本申请提供的一种阵列基板、掩膜板、显示装置及阵列基板的制作方法,包括:衬底基板,所述衬底基板包括显示区和扇出区,所述扇出区设置有多条栅线,相邻所述栅线的间距为4.2μm至4.7μm。本申请通过将扇出区的栅线间距降低至4.2μm至4.7μm,从而将布线间距从5.5μm降低了1μm左右,相比之下降低了18%左右的间距距离。通过调整基板制作过程中的掩膜板,使扇出区的掩膜板从全透改变为半透,从而在完成光刻时,半透区域对应的金属层上还会有光刻胶保留,从而保护扇出区的金属层不会进行湿法刻蚀,从而降低了栅线的CDBias,从而降低了栅线间的间距,进而为实现更窄的边框提供了技术支持。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案,下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例的参数CDBias的计算方式示意图;

图2为本申请实施例提出的一种阵列基板的扇出区截面结构示意图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司,未经京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111395215.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top