[发明专利]一种矫正同源重组缺陷评分的方法、装置和存储介质有效

专利信息
申请号: 202111396426.X 申请日: 2021-11-23
公开(公告)号: CN114067909B 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 管彦芳;李彩琴;刘涛;程海楠;方欢 申请(专利权)人: 北京吉因加医学检验实验室有限公司;深圳吉因加信息科技有限公司
主分类号: G16B20/50 分类号: G16B20/50
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 李小焦;彭家恩
地址: 102200 北京市昌平区回龙观镇生命园路8号院*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 矫正 同源 重组 缺陷 评分 方法 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种矫正同源重组缺陷评分的方法,其特征在于:包括以下步骤,

体系CNV和体系SNV突变集获取步骤,包括获取待测样本的体系CNV突变和体系SNV突变;

全基因组倍增WGD值获取步骤,包括利用获得的体系CNV突变和体系SNV突变,计算待测样本最优模型下的WGD值;

同源重复缺陷评分步骤,包括利用获得的体系CNV突变和体系SNV突变,计算待测样本的原始LOH score值、原始TAI score值、原始LST score值;

矫正步骤,包括对发生WGD的待测样本,利用第一矫正系数k1矫正原始LST score值,利用第二矫正系数k2矫正原始TAI score值,

矫正后LST score值=(1-k1×WGD值)×原始LST score值,

矫正后TAI score值=(1-k2×WGD值)×原始TAI score值,

矫正后的同源重组缺陷评分HRD score值为矫正后LST score值、矫正后TAI score值和原始LOH score值的加和;

所述全基因组倍增WGD值获取步骤中,计算待测样本最优模型下的WGD值包括,利用体系CNV突变和体系SNV突变作为软件ABSOLUTE的输入,输出待测样本若干个模型下模拟的WGD值、purity值、ploidy值,对于预测得到的模型进行筛选确定最优模型,获得最优模型下的WGD值。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述体系CNV和体系SNV突变集获取步骤,包括利用GATK软件检测CNV突变,结合配对样本CNV结果,过滤胚系CNV突变,得到体系CNV突变;利用Mutect2软件检测SNV突变,结合配对样本SNV结果,过滤胚系SNV突变,得到体系SNV突变。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于:所述同源重复缺陷评分步骤中,计算待测样本的原始LOH score值、原始TAI score值、原始LST score值包括,利用体系CNV突变和体系SNV突变作为软件scarHRD的输入,输出待测样本的原始LOH score值、原始TAI score值、原始LST score值。

4.一种矫正同源重组缺陷评分的装置,其特征在于:包括体系CNV和体系SNV突变集获取模块、全基因组倍增WGD值获取模块、同源重复缺陷评分模块和矫正模块,

所述体系CNV和体系SNV突变集获取模块,包括用于获取待测样本的体系CNV突变和体系SNV突变;

所述全基因组倍增WGD值获取模块,包括用于根据获得的体系CNV突变和体系SNV突变,计算待测样本最优模型下的WGD值;

所述同源重复缺陷评分模块,包括用于根据获得的体系CNV突变和体系SNV突变,计算待测样本的原始LOH score值、原始TAI score值、原始LST score值;

所述矫正模块,包括用于对发生WGD的待测样本,利用第一矫正系数k1矫正原始LSTscore值,利用第二矫正系数k2矫正原始TAI score值,

矫正后LST score值=(1-k1×WGD值)×原始LST score值,

矫正后TAI score值=(1-k2×WGD值)×原始TAI score值,

矫正后的同源重组缺陷评分HRD score值为矫正后LST score值、矫正后TAI score值和原始LOH score值的加和;

所述全基因组倍增WGD值获取模块中,计算待测样本最优模型下的WGD值包括,利用体系CNV突变和体系SNV突变作为软件ABSOLUTE的输入,输出待测样本若干个模型下模拟的WGD值、purity值、ploidy值,对于预测得到的模型进行筛选确定最优模型,获得最优模型下的WGD值。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于:所述体系CNV和体系SNV突变集获取模块,包括利用GATK软件检测CNV突变,结合配对样本CNV结果,过滤胚系CNV突变,得到体系CNV突变;利用Mutect2软件检测SNV突变,结合配对样本SNV结果,过滤胚系SNV突变,得到体系SNV突变。

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