[发明专利]测试方法

权利要求书

1.一种测试方法，适用于光电探测设备的合格检测，光电探测设备能接受红外光并能发射、接受激光，其特征在于，包括由左至右间隔设置有第一可见光平行管、万象调节平台和调温箱，所述万象调节平台上相邻安装有第二反光镜、光轴调校设备和第二可见光平行管，且所述第二反光镜位于所述光轴调校设备左侧，所述调温箱内放置光电探测设备，且在近邻所述万象调节平台的一侧壁设置有光窗，光电探测设备设上安装有第一反光镜，并电连接有红外探测显示器和示波器，其中，

S101:所述第二可见光平行管向光电探测设备发射可见光，完成角度偏差的准值校正；

S102：所述调温箱按预设温度降低或升高内部温度，测量第一偏差，根据所述第一偏差判断光电探测设备是否合格；

S201:在常温下，光电探测设备接收所述光轴调校设备发射红外光，调整角度偏差的准值；

S202:所述调温箱按预设温度降低或升高内部温度，光电探测设备的激光接受和产品的红外接收发生偏移，确定产品接收红外光轴与产品接收激光光轴的偏差量是否合格；

S301:所述光轴调校设备发射红外光，对光电探测设备进行接收红外光进行校准；

S302:光电探测设备发射激光，所述光轴调校设备根据接收激光判断光电探测设备是否合格。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S101中的所述完成角度偏差的准值校正的方法包括：

所述第二可见光平行管向产品发射可见光，经所述第一反光镜发射后，并接受第一反光镜的反射光，使第二可见光平行管与第一反光镜角度偏差为准值；

光电探测设备接收所述光轴调校设备发射的红外光，并通过红外探测显示器，且调整红外探测显示器上接收所述光轴调校设备发射红外光处于中央区域，以完成角度偏差的准值校正。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，S102中的所述测量第一偏差及判断光电探测设备是否合格的方法包括：

获取光电探测设备的标准红外光轴偏差；

所述调温箱按预设温度降低或升高内部温度，光电探测设备的接受光轴与第一反光镜反射角度发生偏移，重新所述调整万象调节平台，使所述光轴调校设备发出的红外光在所述红外探测显示器的中央显示；

获取所述第二可见光平行管的发射光与所述第一反光镜反射光的偏差，作为第一偏差；

判断所述第一偏差是否与所述标准红外光轴偏差相同或在标准红外光轴偏差范围内，如是，光电探测设备为合格产品。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S201中的所述调整角度偏差的准值的方法包括：

在常温下，所述光轴调校设备发射的红外光被光电探测设备所述接收，并通过所述示波器显示的峰值，调整角度偏差的准值。