[发明专利]测试方法

说明书

本发明的测试方法，属于光电产品光轴测试技术领域，解决现有技术的产生测试方法误差较大的技术问题。包括适用于光电探测设备的合格检测，光电探测设备能接受红外光并能发射、接受激光，其特征在于，包括由左至右间隔设置有第一可见光平行管、万象调节平台和调温箱，所述万象调节平台上相邻安装有第二反光镜、光轴调校设备和第二可见光平行管，且所述第二反光镜位于所述光轴调校设备左侧，所述调温箱内放置光电探测设备，且在近邻所述万象调节平台的一侧壁设置有光窗，光电探测设备设上安装有第一反光镜，并电连接有红外探测显示器和示波器。本发明用于提高光电探测设备检测的功能。

技术领域

本发明属于光电产品光轴测试技术领域，尤其涉及一种测试方法。

背景技术

机载光电产品在高低温环境下的光轴偏移会导致产品测距性能和成像质量下降，是衡量整机光机性能的重要指标。以往测量激光接收、红外光轴相对偏移量时，未考虑二维调节台在方位、俯仰方向上的角度耦合特性，难以从测试数据中找到明显的偏移规律，这为改善光机设计带来极大困扰。

有鉴于此，特提出本发明。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试方法，解决现有技术的产生测试方法误差较大的技术问题。本案的技术方案有诸多技术有益效果，见下文介绍：

提供一种测试方法，适用于光电探测设备的合格检测，光电探测设备能接受红外光并能发射、接受激光，包括由左至右间隔设置有第一可见光平行管、万象调节平台和调温箱，所述万象调节平台上相邻安装有第二反光镜、光轴调校设备和第二可见光平行管，且所述第二反光镜位于所述光轴调校设备左侧，所述调温箱内放置光电探测设备，且在近邻所述万象调节平台的一侧壁设置有光窗，光电探测设备设上安装有第一反光镜，并电连接有红外探测显示器和示波器，其中，

S101:所述第二可见光平行管向光电探测设备发射可见光，完成角度偏差的准值校正；

S102：所述调温箱按预设温度降低或升高内部温度，测量第一偏差，根据所述第一偏差判断光电探测设备是否合格；

S201:在常温下，光电探测设备接收所述光轴调校设备发射红外光，调整角度偏差的准值；

S202:所述调温箱按预设温度降低或升高内部温度，光电探测设备的激光接受和产品的红外接收发生偏移，确定产品接收红外光轴与产品接收激光光轴的偏差量是否合格；

S301:所述光轴调校设备发射红外光，对光电探测设备进行接收红外光进行校准；

S302:光电探测设备发射激光，所述光轴调校设备根据接收激光判断光电探测设备是否合格。

与现有技术相比，本发明提供的技术方案包括以下有益效果：

本案方法中的S202步骤提供了解耦测试的方法，极大降低了对二维调节台的精度依赖，可推广用于高低温工况下激光接收、激光发射两光轴的相对偏移量解耦测试。整体上提高对产品发射、接收激光和接收红外的测试方法。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明的结构示意图。

具体实施方式