[发明专利]一种反射率的测量方法、激光雷达装置及存储介质在审

专利信息
申请号: 202111416910.4 申请日: 2021-11-25
公开(公告)号: CN116165169A 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 王泮义;李翔;李雪;张雪薇 申请(专利权)人: 武汉万集光电技术有限公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01S17/02
代理公司: 深圳德高智行知识产权代理事务所(普通合伙) 44696 代理人: 李昕
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 反射率 测量方法 激光雷达 装置 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种反射率的测量方法,其特征在于,包括:

获取激光雷达装置与被测物体之间的间距及回波信号的特征参数;

获取第一预设特征关系式;

根据所述第一预设特征关系式计算被测物体的反射率;其中,所述第一预设特征关系式为预先存储的所述特征参数与所述反射率的对应关系式。

2.根据权利要求1所述的反射率的测量方法,其特征在于,所述特征参数包括脉宽、波形面积、上升沿、下降沿及幅值中至少一种。

3.根据权利要求1所述的反射率的测量方法,其特征在于,所述特征参数与回波信号能量存在对应的单调关系。

4.根据权利要求1-3任一项所述的反射率的测量方法,其特征在于,所述获取第一预设特征关系式,包括:

获取预设反射率拟合关系式及第二预设特征关系式;

根据所述预设反射率拟合关系式及所述第二预设特征关系式生成所述第一预设特征关系式。

5.根据权利要求4所述的反射率的测量方法,其特征在于,所述获取预设反射率拟合关系式,包括:

预设若干个不同反射率的标准漫反射板;

获取于预设标定间距下具有不同反射率的所述标准漫反射板反射的若干个预设标定回波信号能量;

根据各所述预设标定回波信号能量确定在不同间距所对应的不同回波信号能量的反比关系式;

根据各所述预设标定回波信号能量、所述反比关系式及反射率与回波信号能量之间的映射关系式,得到于不同间距下具有不同反射率的所述标准漫反射板对应的预设回波信号能量映射关系表;

对所述预设回波信号能量映射关系表进行拟合处理,得到所述预设反射率拟合关系式。

6.根据权利要求5所述的反射率的测量方法,其特征在于,所述特征参数包括脉宽;所述获取第二预设特征关系式,包括:

获取脉宽与能量对应的第一映射关系表;

基于所述反射率与回波信号能量之间的映射关系式及所述第一映射关系表,确定所述回波信号能量与所述脉宽之间的所述第二预设特征关系式。

7.根据权利要求5所述的反射率的测量方法,其特征在于,所述特征参数包括波形面积;所述获取第二预设特征关系式,还包括:

获取波形面积与能量对应的第二映射关系表;

基于所述反射率与回波信号能量之间的映射关系式及所述第二映射关系表,确定所述回波信号能量与所述波形面积之间的所述第二预设特征关系式。

8.一种激光雷达装置,其特征在于,包括:发光单元、接收单元、镜组模块及主控单元;

发光单元,与所述主控模块连接,用于根据所述主控模块提供的发光控制信号辐射测距激光;

镜组单元,用于将所述测距激光在被测物体上反射的漫反射测距激光信号汇聚至所述接收单元上;

接收单元,用于将所述漫反射测距激光信号转换为光信号,并对所述光信号进行放大处理以生成回波信号;

主控模块,与所述接收单元连接,被配置为:

获取激光雷达装置与被测物体之间的间距及所述回波信号的特征参数;

获取第一预设特征关系式;

根据所述第一预设特征关系式计算被测物体的反射率;其中,所述第一预设特征关系式为预先存储的所述特征参数与所述反射率的对应关系式。

9.根据权利要求8所述的激光雷达装置,其特征在于,所述获取第一预设特征关系式,包括:

获取预设反射率拟合关系式及第二预设特征关系式;

根据所述预设反射率拟合关系式及所述第二预设特征关系式生成所述第一预设特征关系式。

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