[发明专利]一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统，其特征在于，包括：标准数据库、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块，

根据SD器件型号存储多组标准数据组形成所述标准数据库，其中每组标准数据组包括SD器件标准品两端输入的电压值和在该电压值下的电流值，多组标准数据组中的电压值按标准增幅梯次递增；

所述选择调用模块用于选择SD器件的型号，以便从标准数据库中调用相应的标准数据组；

所述电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增，所述第一增幅小于第二增幅，所述标准增幅小于等于所述第一增幅；

所述测试模块用于导通SD器件两端，测试SD器件两端的电流值，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块；

所述数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行数据比对；

所述输出模块用于输出检测结果。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述正向直流电压值范围为0-0.5V，所述第一增幅为0.05-0.1V。

3.根据权利要求1或2所述的检测系统，其特征在于，所述反向直流电压值范围为0-40V，所述第二增幅为1.5-2.5V。

4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述数据比对的规则包括：SD器件两端输入正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值，否则为不合格；SD器件两端输入反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格。

5.根据权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述检测结果包括：对于判定合格的数据用第一颜色标示，对于判定不合格的数据用第二颜色标示，所述第一颜色与所述第二颜色不同。

6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述标准数据库、所述选择调用模块、所述电压源模块、所述测试模块、所述数据处理模块和所述输出模块均运行于一单片机上，所述测试模块还包括检测探针。

7.一种利用权利要求1-6任一项所述的检测系统进行显示模组中肖特基二极管的性能检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取多个型号SD器件标准品的多组标准数据组，并存储于标准数据库中；

在选择调用模块中选择SD器件的型号，确定调用的标准数据组；

先后施加正向和反向的直流电压至检测SD器件两端，其中输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增；

数据比对；

显示检测结果。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，通过控制电压源模块输出电压至测试模块的探针上，通过所述探针施加直流电压至检测SD器件两端。

9.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述数据比对包括利用数据处理模块匹配同一型号下的标准数据库中的标准数据组，对同一直流电压下的检测数据组与标准数据组进行比对，并将检测结果发送至输出模块。

10.根据权利要求7或9所述的检测方法，其特征在于，所述数据比对的比对规则包括：SD器件两端输入正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格；SD器件两端输入反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格。