[发明专利]一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法

说明书

本发明公开一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法，该检测系统包括：标准数据库、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块，根据SD器件型号存储多组标准数据组形成标准数据库，多组标准数据组中的电压值按标准增幅梯次递增；选择调用模块用于选择SD器件的型号；电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增；测试模块用于导通SD器件两端，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块；数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行比对；输出模块用于输出检测结果。

技术领域

本发明涉及显示屏或触摸屏技术领域，尤其涉及一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法。

背景技术

在目前的显示模组行业中，一般在FPC上设置有肖特基二极管 (SchottkyDiodes，后面简称SD)，其为一种保护性器件。现有的模组成品检测中没有针对SD器件进行检测的方法和方案，只是在点亮测试工序查看成品模组是否能够正常点亮。这样的模式往往在SD器件完全损坏的情况下才能得到直观的呈现(完全损坏时模组无法点亮)，对于微击穿的SD器件，此种方法无法检出，以致于将此部分不产品良流出到客户端，造成客户装机后，整机闪屏、不显、电流异常、功耗偏高等问题，引起客户投诉等问题，给生产企业带来繁琐的事故处理，造成了一定的经济损失。

而对于微击穿的SD器件，此种方法无法检出的有以下几个原因：

(1)模组厂治具使用的电源驱动能力较大，对于SD器件微击穿所引起的上电瞬间抽电现象不明显，导致无法检出；

(2)在整机端，电池的带载能力有限，任何部件上电瞬间的抽电现象都会引起电池带载能力不足，故而导致屏闪、不显、电流异常、功耗偏高等问题。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明的主要目的是提供一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统及检测方法，以在模组端检测出模组成品上SD器件是否为不良器件，避免流出客户端，造成整机报废，降低工厂的经济损失。

本发明的技术方案如下：本发明提供一种显示模组中肖特基二极管的性能检测系统，包括：标准数据库、选择调用模块、电压源模块、测试模块、数据处理模块和输出模块，

根据SD器件型号存储多组标准数据组形成所述标准数据库，其中每组标准数据组包括SD器件标准品两端输入的电压值和在该电压值下的电流值，多组标准数据组中的电压值按标准增幅梯次递增；

所述选择调用模块用于选择SD器件的型号，以便从标准数据库中调用相应的标准数据组；

所述电压源模块用于输出正向和反向的直流电压至SD器件两端，输入正向直流电压时按第一增幅梯次递增，输入反向直流电压时按第二增幅梯次递增，所述第一增幅小于第二增幅，所述标准增幅小于等于所述第一增幅；

所述测试模块用于导通SD器件两端，测试SD器件两端的电流值，形成电压值与电流值的检测数据组，并将该检测数据组发送至数据处理模块；

所述数据处理模块将检测数据组与标准数据组进行数据比对；

所述输出模块用于输出检测结果。

进一步地，所述正向直流电压值范围为0-0.5V，所述第一增幅为 0.05-0.1V。

进一步地，所述反向直流电压值范围为0-40V，所述第二增幅为 1.5-2.5V。

进一步地，所述数据比对的规则包括：SD器件两端输入正向直流电压时，电流检测结果大于该正向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格；SD器件两端输入反向直流电压时，电流检测结果小于该反向直流电压下标准数据组中的电流值判定为合格，否则为不合格。