[发明专利]光模块故障定位方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202111427471.7 申请日: 2021-11-29
公开(公告)号: CN113852417B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 鲁光辉;杨德瑞 申请(专利权)人: 深圳市飞思卓科技有限公司
主分类号: H04B10/073 分类号: H04B10/073
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 王韬
地址: 518100 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 模块 故障 定位 方法 装置 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种光模块故障定位方法,其特征在于,所述光模块故障定位方法包括以下步骤:

获取待测光模块对应的报修环境信息及型号信息,所述报修环境信息包括温度、湿度及光照强度,所述型号信息包括光模块分类及传输速率;

根据所述报修环境信息设置检测环境,并根据所述型号信息及所述报修环境信息查找对应的标准运行参数;

获取所述待测光模块在所述检测环境中运行时的待测运行参数,获得第一待测运行参数;

根据所述第一待测运行参数及所述标准运行参数对所述待测光模块进行故障检测;

其中,所述根据所述报修环境信息设置检测环境,并根据所述型号信息及所述报修环境信息查找对应的标准运行参数的步骤,包括:

根据报修环境信息调整检测环境中环境模拟模块的参数,使得检测环境的温度、湿度及光照度与报修现场一致;

根据所述报修环境信息及所述型号信息在预设标准参数库中查找对应的标准运行参数,所述预设标准参数库中存储有不同型号的光模块在不同的环境下运行时的标准运行参数。

2.如权利要求1所述的光模块故障定位方法,其特征在于,所述获取待测光模块对应的报修环境信息及型号信息的步骤之前,还包括:

读取所述待测光模块的运行总时长;

在所述运行总时长小于预设最大时长时,执行所述获取待测光模块对应的报修环境信息及型号信息的步骤。

3.如权利要求1所述的光模块故障定位方法,其特征在于,所述根据所述第一待测运行参数及所述标准运行参数对所述待测光模块进行故障检测的步骤,包括:

根据所述第一待测运行参数与所述标准运行参数确定若干个运行参数差值;

若任一运行参数差值满足预设故障判定条件,则获取满足所述预设故障判定条件的运行参数差值对应的参数类型;

根据所述参数类型确定所述待测光模块的故障原因。

4.如权利要求3所述的光模块故障定位方法,其特征在于,所述根据所述参数类型确定所述待测光模块的故障原因的步骤,包括:

在所述参数类型为运行电压、运行温度或接收灵敏度时,判定所述待测光模块的故障原因为驱动异常;

在所述参数类型为光链路损耗、电阻值时,判定所述待测光模块的故障原因为污染物附着。

5.如权利要求3所述的光模块故障定位方法,其特征在于,所述根据所述参数类型确定所述待测光模块的故障原因的步骤之后,还包括:

在所述故障原因为驱动异常时,对所述待测光模块进行故障处理;

在故障处理完成之后再次获取所述待测光模块在所述检测环境中运行时的待测运行参数,获得第二待测运行参数;

将所述第二待测运行参数与所述标准运行参数进行比较,根据比较结果确定故障是否排除;

在故障未排除时,根据所述故障原因、所述第一待测运行参数、所述第二待测运行参数及所述标准运行参数构建光模块检测报告,并将所述光模块检测报告进行展示。

6.如权利要求5所述的光模块故障定位方法,其特征在于,所述在所述故障原因为驱动异常时,对所述待测光模块进行故障处理的步骤,包括:

在所述故障原因为驱动异常时,获取所述待测光模块的生产厂家信息;

根据所述型号信息及所述生产厂家信息在预设驱动库中查找对应的驱动程序;

根据所述驱动程序对所述待测光模块进行驱动更新。

7.如权利要求1-6任一项所述的光模块故障定位方法,其特征在于,所述获取所述待测光模块在所述检测环境中运行时的待测运行参数,获得第一待测运行参数的步骤,包括:

将所述待测光模块置于所述检测环境中上电运行;

在上电运行持续时长达到预设检测时长阈值时,采集所述待测光模块在运行时的待测运行参数,获得第一待测运行参数。

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