[发明专利]光模块故障定位方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202111427471.7 申请日: 2021-11-29
公开(公告)号: CN113852417B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 鲁光辉;杨德瑞 申请(专利权)人: 深圳市飞思卓科技有限公司
主分类号: H04B10/073 分类号: H04B10/073
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 王韬
地址: 518100 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 模块 故障 定位 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

发明属于通信技术领域,公开了一种光模块故障定位方法、装置、设备及存储介质。本发明通过获取待测光模块对应的报修环境信息及型号信息;根据报修环境信息设置检测环境,并根据型号信息及报修环境信息查找对应的标准运行参数;获取待测光模块在检测环境中运行时的待测运行参数;根据待测运行参数及标准运行参数对待测光模块进行故障检测。由于可以根据报修环境信息自动设置检测环境,保证检测环境与待测光模块实际运行环境一致,避免了因运行环境不同导致的运行参数发生变化,保证了根据待测运行参数与标准运行参数进行故障检测的准确性,且整体方案无需人工参与,成本低,执行效率高。

技术领域

本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种光模块故障定位方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

如今,随着光纤的普及,投入使用的光模块(optical module)数量也急剧增长,在实际使用过程中,光模块会因为各种原因出现异常,导致光纤无法正常运行,而为了快速恢复光纤正常运行,保证使用光纤的用户的体验良好,在现场一般会直接将疑似出现故障的光模块进行更换,然后将疑似故障的光模块取回,再检测光模块故障的原因,而将光模块取回后进行故障检测,需要消耗大量的人力,成本高,且效率低。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种光模块故障定位方法、装置、设备及存储介质,旨在解决现有技术对取回的光模块进行故障检测效率低、成本高的技术问题。

为实现上述目的,本发明提供了一种光模块故障定位方法,所述方法包括以下步骤:

获取待测光模块对应的报修环境信息及型号信息;

根据所述报修环境信息设置检测环境,并根据所述型号信息及所述报修环境信息查找对应的标准运行参数;

获取所述待测光模块在所述检测环境中运行时的待测运行参数;

根据所述待测运行参数及所述标准运行参数对所述待测光模块进行故障检测。

可选的,所述获取待测光模块对应的报修环境信息及型号信息的步骤之前,还包括:

读取所述待测光模块的运行总时长;

在所述运行总时长小于预设最大时长时,执行所述获取待测光模块对应的报修环境信息及型号信息的步骤。

可选的,所述根据所述待测运行参数及所述标准运行参数对所述待测光模块进行故障检测的步骤,包括:

根据所述待测运行参数与所述标准运行参数确定若干个运行参数差值;

若任一运行参数差值满足预设故障判定条件,则获取满足所述预设故障判定条件的运行参数差值对应的参数类型;

根据所述参数类型确定所述待测光模块的故障原因。

可选的,所述根据所述参数类型确定所述待测光模块的故障原因的步骤,包括:

在所述参数类型为运行电压、运行温度或接收灵敏度时,判定所述待测光模块的故障原因为驱动异常;

在所述参数类型为光链路损耗、电阻值时,判定所述待测光模块的故障原因为污染物附着。

可选的,所述根据所述参数类型确定所述待测光模块的故障原因的步骤之后,还包括:

在所述故障原因为驱动异常时,对所述待测光模块进行故障处理;

在故障处理完成之后再次获取所述待测光模块在所述检测环境中运行时的待测运行参数,获得第二待测运行参数;

将所述第二待测运行参数与所述标准运行参数进行比较,根据比较结果确定故障是否排除;

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