[发明专利]高甲基化CDK2AP1基因作为α辐射损伤预测的分子标志物的用途在审
| 申请号： | 202111434363.2 | 申请日： | 2021-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN114438188A | 公开（公告）日： | 2022-05-06 |
| 发明（设计）人： | 古晓娜;薛向明;张艳娜;苏丽霞;林海鹏;杨彪;杨雪;武钊;茹尚敏;段宇建;刘沛瑶;刘晓明;战景明;李建国 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | C12Q1/6883 | 分类号： | C12Q1/6883 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 屈献庄;周敏毅 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 甲基化 cdk2ap1 基因 作为 辐射损伤 预测 分子 标志 用途 | ||
【权利要求书】：
1.高甲基化CDK2AP1基因作为α辐射损伤预测的分子标志物的用途，其特征在于：所述的高甲基化CDK2AP1基因是CDK2AP1基因的启动子区域的甲基化水平为43.00±27.91％。
2.根据权利要求1所述的用途，其特征在于：CDK2AP1基因的甲基化位点包括启动子区域的cg09084244的CG位点。
3.根据权利要求1所述的用途，其特征在于：所述的辐射损伤为局部或全身的组织器官不良反应。
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