[发明专利]一种自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件

权利要求书

1.一种自举电容的极限值测试方法，所述自举电容应用于buck电路，其特征在于，所述极限值测试方法包括：

将电容值档位可调的电容矩阵作为自举电容接入buck电路；

启动测试程序，以对所述电容矩阵执行以下操作：

根据当前档位指令，调整所述电容矩阵的当前电容值档位；

控制负载仪进行电流拉载，并控制预设电源对电源芯片进行上下电测试；

将所述电流拉载和/或所述上下电测试中所述电容矩阵的两端电压值和所述电源芯片的上下电结果，作为当前电容值档位的测试结果记录，所述上下电结果具体为所述电源芯片存在掉电情况或所述电源芯片不存在掉电情况；

若当前电容值档位与上一电容值档位中所述电源芯片的上下电结果相同，则根据测试顺序生成下一档位指令；

若当前电容值档位与上一电容值档位中所述电源芯片的上下电结果不同，则将当前电容值档位与上一电容值档位中更高电容值档位对应的所述测试结果作为最终测试结果，并结束测试。

2.根据权利要求1所述极限值测试方法，其特征在于，所述电容矩阵包括并联的多个电容单元，每个所述电容单元包括串联的开关和电容，所述开关用于调整所述电容矩阵的电容值档位。

3.根据权利要求1所述极限测试方法，其特征在于，所述控制负载仪进行电流拉载，并控制预设电源对电源芯片进行上下电测试的过程，包括：

控制负载仪进行电流拉载，并控制预设电源对电源芯片上电；

判断所述电源芯片是否正常上电；

若是，则控制所述预设电源对所述电源芯片进行上下电测试；

若否，则将当前电容值档位的上下电结果确定为所述电源芯片存在掉电情况。

4.根据权利要求3所述极限测试方法，其特征在于，所述控制所述预设电源对所述电源芯片进行上下电测试的过程，包括：

控制所述预设电源对所述电源芯片进行预设次数的上下电测试；

如果所述上下电测试中所述电源芯片掉电，则停止当前电容值档位的所述上下电测试，并将当前电容值档位的上下电结果确定为所述电源芯片存在掉电情况。

5.根据权利要求1至4任一所述极限测试方法，其特征在于，所述测试顺序具体为：

对应所述电容矩阵的电容值档位从大到小的第一顺序，或对应所述电容矩阵的电容值档位从小到大的第二顺序，或根据当前电容值档位的上下电结果调整所述电容矩阵的下一电容值档位的第三顺序。

6.根据权利要求5所述极限测试方法，其特征在于，所述第三顺序具体为：

若当前电容值档位的上下电结果为所述电源芯片存在掉电情况，则将下一电容值档位确定为比当前电容值档位大一档的电容值档位；

若当前电容值档位的上下电结果为所述电源芯片不存在掉电情况，则将下一电容值档位确定为比当前电容值档位小一档的电容值档位。

7.根据权利要求6所述极限值测试方法，其特征在于，所述两端电压值通过示波器测试得到，所述极限值测试方法还包括：

调整所述示波器的界面显示参数，并输出包括所述两端电压值的示波器界面的图像和参数。