[发明专利]一种自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件

说明书

本申请公开了一种自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件，该方法包括：将电容值档位可调的电容矩阵作为自举电容接入buck电路；启动测试程序，执行以下操作：根据当前档位指令，调整电容矩阵的当前电容值档位；控制负载仪进行电流拉载，并控制预设电源对电源芯片进行上下电测试；记录当前电容值档位的测试结果；若当前档位与上一档位的上下电结果相同，则根据测试顺序生成下一档位指令；若不同，则确定最终测试结果并结束测试。该测试中自举电容可自行调节电容值档位，不需要在主板上反复焊接不同的自举电容，拉载测试由测试程序自动实现，不需要人工手动进行，且程序控制效率更高，耗时更短，节省了大量人工成本和时间成本。

技术领域

本发明涉及硬件测试领域，特别涉及一种自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件。

背景技术

当前，buck电路被广泛应用在服务器电源方案中。Buck电路的可靠性测试，包括各个管脚功能和极限条件，例如boot线路上需要加一个电容连接到上管的驱动端，成为boot电容或自举电容，安装时该电容大小以规格书中建议值为准，但测试时电容大小及其两端的电压极限值需要作进一步的测试。

现有的测试方案，一般是手动更换boot线路上的自举电容，以调整自举电容的大小，然后利用负载仪进行多次手动拉载，测试拉载过程中的自举电容的两端电压和输出电压，以此观察上电是否顺利。但是，这种测试需要多次焊接更换电容，容易损坏主板，手动拉载需要人工进行，过程耗时久，测试效率低。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是目前本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种损耗低、效率高的自举电容的极限值测试方法、系统及相关组件。其具体方案如下：

一种自举电容的极限值测试方法，所述自举电容应用于buck电路，所述极限值测试方法包括：

将电容值档位可调的电容矩阵作为自举电容接入buck电路；

启动测试程序，以对所述电容矩阵执行以下操作：

根据当前档位指令，调整所述电容矩阵的当前电容值档位；

控制负载仪进行电流拉载，并控制预设电源对电源芯片进行上下电测试；

将所述电流拉载和/或所述上下电测试中所述电容矩阵的两端电压值和所述电源芯片的上下电结果，作为当前电容值档位的测试结果记录，所述上下电结果具体为所述电源芯片存在掉电情况或所述电源芯片不存在掉电情况；

若当前电容值档位与上一电容值档位中所述电源芯片的上下电结果相同，则根据测试顺序生成下一档位指令；

若当前电容值档位与上一电容值档位中所述电源芯片的上下电结果不同，则将当前电容值档位与上一电容值档位中更高电容值档位对应的所述测试结果作为最终测试结果，并结束测试。

优选的，所述电容矩阵包括并联的多个电容单元，每个所述电容单元包括串联的开关和电容，所述开关用于调整所述电容矩阵的电容值档位。

优选的，所述控制负载仪进行电流拉载，并控制预设电源对电源芯片进行上下电测试的过程，包括：

控制负载仪进行电流拉载，并控制预设电源对电源芯片上电；

判断所述电源芯片是否正常上电；

若是，则控制所述预设电源对所述电源芯片进行上下电测试；

若否，则将当前电容值档位的上下电结果确定为所述电源芯片存在掉电情况。

优选的，所述控制所述预设电源对所述电源芯片进行上下电测试的过程，包括：

控制所述预设电源对所述电源芯片进行预设次数的上下电测试；