[发明专利]一种芯片性能验证方法及装置、电子设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 202111449083.9 申请日: 2021-11-30
公开(公告)号: CN114201941A 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 鄢其力 申请(专利权)人: 海光信息技术股份有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06F119/02
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 代理人: 张仲波
地址: 300000 天津市滨海新区天津华苑*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 性能 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种芯片性能验证方法,其特征在于,包括:

通过性能统计管理平台,从待验证芯片的预设模型环境接收模型状态信息;其中,所述性能统计管理平台与所述预设模型环境之间通过预设接口通信,所述预设模型环境包括以下至少一种:功能验证环境、硬件模拟环境、性能模型环境;

触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号;

在所述验证控制信号的控制下,通过预设的性能统计组件,从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据,并对所述模型运行数据进行性能统计,得到对应的性能统计结果,其中,所述性能统计管理平台所基于的编程语言与所述预设模型环境所基于的编程语言以及所述性能统计组件所基于的编程语言彼此兼容。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述触发所述性能统计管理平台根据所述模型状态信息生成验证控制信号包括:

根据所述模型状态信息中的开始运行信号,触发所述性能统计管理平台生成开始统计信号;

或者

根据所述模型状态信息中的停止运行信号,触发所述性能统计管理平台生成停止统计信号。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述验证控制信号的控制下,通过预设的性能统计组件,从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据之前,所述方法还包括:

按照预设的组件隶属关系,将所述性能统计组件的指针添加到所述性能统计管理平台预设的组件指针索引中,或者添加到所述性能统计管理平台的下级子平台预设的组件指针索引中;

和/或

按照预设的平台隶属关系,将各所述下级子平台的指针添加到对应的上一级子平台预设的子平台指针索引中,或者添加到所述性能统计管理平台预设的子平台指针索引中。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述在所述验证控制信号的控制下,通过预设的性能统计组件,从所述预设模型环境接收所述待验证芯片的模型运行数据,并对所述模型运行数据进行性能统计包括:

所述性能统计管理平台,将所述验证控制信号下发到各所述性能统计组件,其中,所述性能统计组件直接处于所述性能统计管理平台的管理下,或者处于所述性能统计管理平台的下级子平台的管理下;

各所述性能统计组件,根据所述验证控制信号,分别接收各自对应的所述模型运行数据;

各所述性能统计组件,根据各自的统计属性,分别对所述模型运行数据进行性能统计。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述性能统计管理平台,将所述验证控制信号下发到各所述性能统计组件包括:

若所述性能统计组件直接处于所述性能统计管理平台的管理下,则所述性能管理平台从所述性能管理平台预设的组件指针索引中获取所述性能统计组件的指针,根据所述性能统计组件的指针,将所述验证控制信号分别下发到所述性能统计组件;

若所述性能统计组件处于所述性能统计管理平台的下级子平台的管理下,则所述性能管理平台从所述性能管理平台预设的子平台指针索引中获取所述性能统计组件所在的第一子平台的指针;根据所述第一子平台的指针得到所述第一子平台,并从所述第一子平台预设的组件指针索引中获取所述性能统计组件的指针,根据所述性能统计组件的指针,将所述验证控制信号分别下发到所述性能统计组件。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述各所述性能统计组件,根据所述验证控制信号,分别接收各自对应的所述模型运行数据包括:

各所述性能统计组件,根据所述验证控制信号确定各自统计任务的开启或结束;

响应于所述统计任务开启,各所述性能统计组件,分别接收各自对应的所述模型运行数据;

响应于所述统计任务结束,各所述性能统计组件,分别停止接收各自对应的所述模型运行数据。

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