[发明专利]一种标准化的SMD石英晶体振荡器检测方法

权利要求书

1.一种标准化的SMD石英晶体振荡器检测方法，SMD石英晶体振荡器的上盖厚度为0.07mm，其特征在于，包括以下步骤：

(1)选择为X目的砂纸作为粗磨，粗磨的次数为Q；选择为Y目的砂纸作为精磨，精磨的次数为T，单次磨盖的摩擦距离为10cm；

Q、T采用下式计算：

Q＝int(X·0.055)+int(X/400)×1+int(Y/800)×1；

T＝8-int(X/360)×2+int[(0.0525×Y-25)×(280/Y)^0.2]；

其中，X、Y的组合采用：“X＝280，Y＝500”、“X＝320，Y＝500”、“X＝320，Y＝600”、“X＝360，Y＝500”、“X＝360，Y＝600”、“X＝400，Y＝500”、“X＝400，Y＝600”；

其中，所述的粗磨的压力为5.9～6.2N；所述的精磨的压力为2.2～2.6N；粗磨频率为0.7～0.9s/times；精磨频率为0.45～0.55s/times；

(2)SMD晶振的上盖放在胶带上粘结，将SMD晶振拿来，上盖留在胶带上，实现上盖开盖；

(3)开盖后的SMD晶振的上盖打开后，放置于显微镜下进行检测。