[发明专利]显示屏的检测方法、装置及存储介质在审
申请号: | 202111459729.1 | 申请日: | 2021-12-02 |
公开(公告)号: | CN114166475A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 秦禄东;李志林;魏斌;廖英杰;赵婷婷 | 申请(专利权)人: | OPPO广东移动通信有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 陈晓真 |
地址: | 523860 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示屏 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种显示屏的检测方法,其特征在于,包括:
采集显示屏的出射光信息;
对所述出射光信息进行光谱分析,得到所述显示屏的第一光谱分布;
基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述显示屏包括多种单色发光元件;所述基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能,包括:
对于每一单色发光元件,从所述第一光谱分布中确定出所述单色发光元件对应的第二光谱分布;
对所述第二光谱分布的光强度值进行分析,得到所述单色发光元件的目标性能。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述目标性能包括寿命衰减程度;所述对所述第二光谱分布的光强度值进行分析,得到所述单色发光元件的目标性能,包括:
在所述单色发光元件对应的波长区间上,对所述第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到所述单色发光元件在所述波长区间上的总强度值;
根据所述单色发光元件在预设时长内的多个所述总强度值,生成强度变化曲线;
根据所述强度变化曲线,确定所述单色发光元件的寿命衰减程度。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述强度变化曲线,确定所述单色发光元件的寿命衰减程度,包括:
基于所述强度变化曲线获取所述总强度值在时间维度的变化率,得到寿命衰减曲线;
根据所述寿命衰减曲线的斜率确定所述单色发光元件的寿命衰减程度,其中,所述斜率与所述寿命衰减程度成正比。
5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述目标性能包括能耗;
所述对所述第二光谱分布的光强度值进行分析,得到所述单色发光元件的目标性能,包括:
获取所述单色发光元件的功率;
在所述单色发光元件对应的波长区间上,对所述第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到所述单色发光元件在所述波长区间上的总强度值;
根据所述功率对应的预设强度值和所述总强度值的差值,确定所述单色发光元件的能耗,其中,所述差值与所述能耗成正比。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标性能包括亮度稳定度;
所述采集显示屏的出射光信息,包括:
在多个预设环境参数下采集显示屏的出射光信息,得到对应的多个出射光信息;
所述对所述出射光信息进行光谱分析,得到所述显示屏的第一光谱分布,包括:
分别对所述多个出射光信息进行光谱分析,得到所述显示屏的多个第一光谱分布;
所述基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能,包括:
对于所述显示屏的每一单色发光元件,从所述多个第一光谱分布中确定出所述单色发光元件对应的多个第二光谱分布;
在所述单色发光元件对应的波长区间上,对所述每一第二光谱分布的光强度值进行积分处理,得到所述单色发光元件在所述波长区间上的多个总强度值;
根据所述多个总强度值随所述多个预设环境参数的变化程度,确定出所述单色发光元件的亮度稳定度,其中,所述变化程度与所述亮度稳定度成反比。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述显示屏包括多种单色发光元件,所述目标性能包括纯度;
所述基于所述第一光谱分布确定所述显示屏的目标性能,包括:
从所述第一光谱分布中确定每一所述单色发光元件的第二光谱分布;
对于每一单色发光元件,获取所述单色发光元件的预设波长分布;
确定所述预设波长分布和所述第二光谱分布之间的分布差异;
根据所述分布差异确定所述单色发光元件的纯度,其中,所述纯度与所述分布差异成反比。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,当所述计算机程序在计算机上运行时,使得所述计算机执行如权利要求1至7任一项所述的显示屏的检测方法。
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