[发明专利]显示屏的检测方法、装置及存储介质

说明书

本申请实施例公开了一种显示屏的检测方法、装置及存储介质，其中，本申请实施例提供的方法包括：采集显示屏的出射光信息；对出射光信息进行光谱分析，得到显示屏的第一光谱分布；基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。通过分析显示屏的光谱分布，进而通过光谱分布对显示屏的性能进行检测，以提高对显示屏性能检测的准确度。

技术领域

本申请涉及光学技术领域，具体涉及一种显示屏的检测方法、装置及存储介质。

背景技术

随着手机、平板电脑等显示设备的发展，对于显示屏的要求越来越高，一般在显示设备出厂之前都会对显示设备的显示屏性能进行检测，检测方法准确度的高低影响到出厂的显示设备的品质，常规的显示屏检测是通过亮度计进行亮度检测，但是这种检测方式准确度低。

发明内容

本申请实施例提供一种显示屏的检测方法、装置及存储介质，能够提高对显示屏性能检测的准确度。

第一方面，本申请实施例提供一种显示屏的检测方法，包括：

采集显示屏的出射光信息；

对出射光信息进行光谱分析，得到显示屏的第一光谱分布；

基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。

第二方面，本申请实施例还提供一种显示屏的检测装置，包括：

信息采集模块，用于采集显示屏的出射光信息；

光谱分析模块，用于对出射光信息进行光谱分析，得到显示屏的第一光谱分布；

性能测试模块，用于基于第一光谱分布确定显示屏的目标性能。

第三方面，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，当计算机程序在计算机上运行时，使得计算机执行如本申请任一实施例提供的显示屏的检测方法。

本申请实施例提供的技术方案，通过采集显示屏的出射光信息，并基于出射光信息进行光谱分析，得到关于显示屏的光谱分布，其中，通过分析光谱分布能够得到关于显示屏发出的单色光和复色光的光谱信息，从而能够以更全面的光谱信息分析显示屏的性能，提高对显示屏性能检测的准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的显示屏的检测方法的流程示意图。

图2为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中第一光谱分布的示意图。

图3为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中强度变化曲线的示意图。

图4为本申请实施例提供的显示屏的检测方法中寿命衰减曲线的示意图。

图5为本申请实施例提供的显示屏的检测装置的结构示意图。

图6为本申请实施例提供的显示屏的检测装置的应用场景示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请的保护范围。