[发明专利]一种芯片测试用智能调节夹具

权利要求书

1.一种芯片测试用智能调节夹具，包括夹具箱(1)和平行板(2)，其特征在于：所述平行板(2)位于夹具箱(1)的右侧，平行板(2)的左侧面固定连接有支撑伸缩杆(3)，支撑伸缩杆(3)的左端固定连接有插接轴(4)，夹具箱(1)转动套接在插接轴(4)的外表面，夹具箱(1)的内部设置有平衡杆(5)，插接轴(4)位于夹具箱(1)内部的一端固定套接在平衡杆(5)的中间部位，平衡杆(5)的前后两侧均设置有导电杆(6)，两个导电杆(6)相互靠近的一面均固定连接有两个水平板(7)，位于前方的两个水平板(7)之间与位于后方的两个水平板(7)之间均滑动插接有拨动轴(8)，两个拨动轴(8)的右端面均与平衡杆(5)的左侧面固定连接，四个水平板(7)均位于平衡杆(5)的左侧；

所述夹具箱(1)的上下面均固定连接有电动机(9)，两个电动机(9)的正面均固定连接有输电杆(10)，两个输电杆(10)的另一端分别固定贯穿夹具箱(1)的上下面，位于前方的导电杆(6)的后方设置有两个电源块(11)，平衡杆(5)位于两个电源块(11)之间，两个电源块(11)均与夹具箱(1)的内壁固定连接，两个输电杆(10)位于夹具箱(1)内部的一端均固定连接有导电块A(12)，两个电源块(11)的正面均固定连接有导电块B(14)，两个电动机(9)的输出端均固定套接有齿轮(13)，两个齿轮(13)相互靠近的一侧均啮合有齿板(15)，平行板(2)的前后两侧均设置有推架(16)，位于前方的推架(16)的左端与位于下方的齿板(15)的前端固定连接，位于后方的推架(16)的左端与位于上方的齿板(15)的后端固定连接，两个齿板(15)相互靠近的一面均滑动插接有棱杆(17)，两个棱杆(17)的两端均与夹具箱(1)固定连接，两个棱杆(17)的外表面均活动套接有复位弹簧(18)，位于下方的复位弹簧(18)的前端与位于上方的复位弹簧(18)的后端分别与两个齿板(15)固定连接，位于下方的复位弹簧(18)的后端与位于上方的复位弹簧(18)的前端均与夹具箱(1)固定连接；

所述平行板(2)与夹具箱(1)之间设置有活动架(19)，活动架(19)活动套接在支撑伸缩杆(3)的外表面，活动架(19)与平行板(2)之间设置有四个弹簧伸缩杆(20)，弹簧伸缩杆(20)的两端分别与活动架(19)和平行板(2)固定连接，活动架(19)的左端与夹具箱(1)的右侧面接触，平行板(2)的上下两侧均设置有一组夹杆(21)，夹杆(21)的左端与平行板(2)的左侧面铰接，夹杆(21)的左端固定连接有弯曲伸缩杆(22)，弯曲伸缩杆(22)的另一端与活动架(19)铰接。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用智能调节夹具，其特征在于：所述导电杆(6)的上表面滑动贯穿有竖杆(23)，竖杆(23)的上下两端分别与夹具箱(1)的上下两侧内壁固定连接，竖杆(23)的形状为四棱柱状。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用智能调节夹具，其特征在于：所述平衡杆(5)的上下两侧均设置有角度杆(24)，角度杆(24)的两端分别与夹具箱(1)的左右两侧内壁固定连接，角度杆(24)位于插接轴(4)的前方。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试用智能调节夹具，其特征在于：所述夹杆(21)位于平行板(2)右侧的一端转动套接有滚套(25)，每组夹杆(21)包括多个夹杆(21)，多个夹杆(21)的等距离分布。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试用智能调节夹具，其特征在于：所述棱杆(17)的形状为六棱柱，两个齿板(15)平行设置，两个齿板(15)以插接轴(4)的轴线圆周阵列均匀分布。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试用智能调节夹具，其特征在于：所述导电块A(12)与导电块B(14)之间的距离等于导电杆(6)前后侧面之间的厚度，两个导电杆(6)平行设置。