[发明专利]一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法

权利要求书

1.一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，其特征在于：包括以下具体步骤：

步骤1：采集客户质量需求，包括陶瓷基板上的总触点数、可拒接受质量水平和消费者风险；

步骤2：厂家设定检测质量要求，包括可接受质量水平和生产者风险；

步骤3：根据客户质量需求和厂家检测质量要求制定抽样方案，确定抽样方案中所需样本触点数和不导电触点数阈值；

步骤4：使用飞针机进行触点通断性测试，得到不导电触点数；

步骤5：比较步骤4中测试所得的不导电触点数和步骤3中不导电触点数阈值，得到该陶瓷基板是否合格的抽样结果。

2.根据权利要求1所述的一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，其特征在于：所述步骤2中，使用Minitab软件生成抽样方案的所需样本触点数大小和不导电触点数阈值，具体步骤是：运行Minitab软件的按属性抽样验收，选择创建抽样计划，将所述步骤1客户质量需求的总触点数输入到批次大小，可拒接受质量水平输入到可拒收质量水平LTPD，消费者风险输入到消费者风险Beta,将所述步骤2检测质量要求的可接受质量水平输入到可接受质量水平AQL，生产者风险输入到生产者风险Alpha，运行软件即可得到抽样方案的样本数量和接受数，其中样本数量是样本触点数大小，接受数是不导电触点数阈值。

3.根据权利要求1所述的一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，其特征在于：所述不导电触点数阈值是指所抽样本触点中，使用飞针机进行触点通断性测试所允许的不导电最大触点数，若实际测试出的不导电触点数超过不导电触点数阈值，则该陶瓷基板判定为次品。

4.根据权利要求2所述的一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，其特征在于：运行Minitab软件生成抽样方案时，还生成抽检特征(OC)曲线图和平均总检验数(ATI)对照表。

5.根据权利要求1所述的一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，其特征在于：所述步骤5中具体采用以下方法判定抽样结果：若飞针机测试所得的不导电触点数大于不导电触点数阈值，则判定该陶瓷基板为次品；若测试所得的不导电触点数小于等于不导电触点数阈值，则需要根据平均总检验数(ATI)对照表进一步判定是否需要复检。

6.根据权利要求4或5所述的一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，其特征在于：判定是否需要复检的具体方法是：定义总触点数为n，平均检验总数(ATI)为ATI，所述步骤4中的不导电触点数为e，不导电触点数阈值为x，设定35％n≤ATI≤45％n，读取平均总检验数(ATI)对照表，找到符合要求的平均检验总数(ATI)，对应该平均检验总数(ATI)的不导电触点数即设为复检阈值k，当k＜e≤x时，需要对该陶瓷基板进行复检。

7.根据权利要求6所述的一种提高陶瓷基板性能检测效率的抽样方法，其特征在于：所述复检方法为对该陶瓷基板的所有触点全部检测，当复检的触点次品率小于可拒接受质量水平时，判定该陶瓷基板为合格品，否则判定该陶瓷基板为次品。