[发明专利]一种SOIC封装高温分选测试设备

权利要求书

1.一种SOIC封装高温分选测试设备，包括机柜电箱机构（1），其特征在于，还包括：

进料转塔模块（2），用于产品输入以及对输入的产品进行常温测试，并将常温测试合格的产品转移至高温转塔模块（3）；

高温转塔模块（3），用于接收常温测试合格的产品，进行高温测试，并将高温测试合格的产品转移至出料转塔模块（4）；

出料转塔模块（4）用于接收高温测试合格的产品，进行激光打标以及打标后的视觉检查，并将检查合格的产品编带封装后输出；

进料转塔模块（2）、高温转塔模块（3）以及出料转塔模块（4）均安装在机柜电箱机构（1）上，且高温测试设备控制系统与进料转塔模块（2）、高温转塔模块（3）以及出料转塔模块（4）均通信连接；

所述高温转塔模块（3）包括高温预热模组（301）、高温煲热模组（302）、高温恒温模组（303），高温恒温测试模组（304）、降温散热模组（305），其中：

高温预热模组（301）、高温煲热模组（302）、高温恒温模组（303）依次分布，用于使产品充分受热处理，充分受热的产品转移至高温恒温测试模组（304）进行高温恒温测试；高温恒温测试后合格的产品转移至降温散热模组（305）降温散热，不合格的产品转移至出料不良集中分类装置（407）；在高温载盘上，产品依次经过高温预热模组（301）、高温煲热模组(302)、高温恒温模组（303），其中，高温预热模组（301）位于高温预热区，高温煲热模组（302）位于高温煲热区，高温恒温模组（303）位于高温恒温区，对于得到充分受热的产品，高温转塔模块（3）的转塔机构将其转移至高温恒温测试模组（304）进行高温恒温测试；

所述进料转塔模块（2）包括振动进料模组（201）、背面视像检查模组（202）、正面视觉检查模组（203）、进料定位纠正装置（205）、常温测试模组（206）、进料不良集中分类装置（207），其中：

所述振动进料模组（201）用于将产品移动至背面视像检查模组（202）进行背面视像检查，并将通过背面视像检查合格的产品输送给正面视觉检查模组（203），背面视像检查不合格的产品输送给进料不良集中分类装置（207）；

所述正面视觉检查模组（203）用于对产品的正面视像检查，并将通过正面视像检查合格的产品输送给进料定位纠正装置（205），通过进料定位纠正装置（205）不合格的产品输送给进料不良集中分类装置（207）；

所述进料定位纠正装置（205）用于接收通过视觉系统检查的产品，并对其定位纠正，纠正后的产品将其转移至由常温测试模组（206）进行常温电性测试；常温电性测试合格的产品转移至高温转塔模块（3），不合格的产品转移至进料不良集中分类装置（207）；

所述进料不良集中分类装置（207）用于接收正面视像检查、背面视像检查以及常温电性测试的不良品。

2.根据权利要求1所述的一种SOIC封装高温分选测试设备，其特征在于：所述出料转塔模块（4）包括出料定位纠正装置（401）、打标副盘装置（402）、激光打标装置（403）、印字外观检测装置（404）、出料旋转定位装置（405）、视觉外观检查装置（406）、出料不良集中分类装置（407）、编带封装模组（408），其中：

所述出料定位纠正装置（401）用于接收来自降温散热模组（305）的产品，用于进行产品定位纠正，并将产品转移至出料转塔的打标副盘装置（402）；

所述激光打标装置（403）用于对位于打标副盘装置（402）上的产品进行激光打标印字；

所述印字外观检测装置（404）用于对打标后的产品进行打标外观检查，不合格的产品转移至出料不良集中分类装置（407），合格品转移至出料旋转定位装置（405），出料旋转定位装置（405）用于对产品进行旋转定位纠正，纠正后产品转移至视觉外观检查装置（406）进行视觉外观检查，不合格的产品转移至出料不良集中分类装置（407），合格品转移至编带封装模组（408）进行编带封装后的成品输出。

3.根据权利要求2所述的一种SOIC封装高温分选测试设备，其特征在于：所述进料不良集中分类装置（207）的一侧设置有进料转塔清料回收装置（208）。