[发明专利]一种APM轨道几何参数的检测装置及检测方法有效
申请号: | 202111473979.0 | 申请日: | 2021-12-02 |
公开(公告)号: | CN114162171B | 公开(公告)日: | 2023-03-21 |
发明(设计)人: | 罗建利;黄超生;滕星权;杨峰;戴广锋;杨斌;向骞骞;代宇昕;卓一杉;李新泉 | 申请(专利权)人: | 中国铁建重工集团股份有限公司 |
主分类号: | B61K9/08 | 分类号: | B61K9/08;G01B11/00 |
代理公司: | 长沙七源专利代理事务所(普通合伙) 43214 | 代理人: | 蔡实艳;周晓艳 |
地址: | 410100 湖南省长*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 apm 轨道 几何 参数 检测 装置 方法 | ||
本发明提供的一种APM轨道几何参数的检测装置及检测方法,用于对APM轨道中的导向轨、供电轨、接地轨和行走面的几何参数进行检测;其特征在于,所述检测装置包括机架以及设置于机架上的走行装置和检测装置;所述走行装置包括驱动导向组件和从动轮;所述驱动导向组件包括驱动电机和导向轮;所述驱动电机的固定端与机架固连,其驱动端与导向轮转动连接;所述导向轮与导向轨的侧端面采用接触式连接;所述从动轮通过连接轴与机架转动连接,并通过导向轮的带动在行走面上进行位移;所述检测装置包括侧向检测装置和顶部检测装置,所述侧向检测装置用于检测供电轨、导向轨和行走面的几何参数,所述顶部检测装置用于检测接地轨的几何参数。
技术领域
本发明涉及APM轨道检测技术领域,具体涉及一种APM轨道几何参数的检测装置及检测方法。
背景技术
APM轨道的几何参数是否符合要求,严重影响行驶于APM轨道上的列车的安全和坐乘人员的舒适性。目前APM轨道内部几何参数检测一般采用的是人工测量,采用人工测量存在工作强度大、测量精度差、效率低等问题。
发明内容
本发明提供了一种APM轨道几何参数的检测装置,用于对APM轨道中的导向轨、供电轨、接地轨和行走面的几何参数进行检测;所述检测装置包括机架以及设置于机架上的走行装置和检测装置;所述走行装置包括驱动导向组件和从动轮;所述驱动导向组件包括驱动电机和导向轮;所述驱动电机的固定端与机架固连,其驱动端与导向轮转动连接;所述导向轮与导向轨的侧端面采用接触式连接;所述从动轮通过连接轴与机架转动连接,并通过导向轮的带动在行走面上进行位移;所述检测装置包括侧向检测装置和顶部检测装置,所述侧向检测装置用于检测供电轨、导向轨和行走面的几何参数,所述顶部检测装置用于检测接地轨的几何参数。
可选的,所述侧向检测装置包括均与机架相连的第一线激光扫描仪和第二线激光扫描仪,所述第一线激光扫描仪用于检测供电轨和导向轨几何参数,所述第二线激光扫描仪用于检测行走面几何参数。
可选的,所述测向检测装置还包括第一位移驱动件,所述第一位移驱动件的固定端通过挂架与机架固连,其驱动端与第一线激光扫描仪和第二线激光扫描仪相连。
可选的,所述第二线激光扫描仪的扫描端与走行面之间呈夹角设置。
可选的,所述第一位移驱动件设置为伺服驱动直线模组结构。
可选的,所述顶部检测装置包括用于检测接地轨几何参数的第三线激光扫描仪,所述第三线激光扫描仪与机架相连。
可选的,所述顶部检测装置还包括用于带动第三线激光扫描仪相对于机架进行位移的第二位移驱动件,所述第二位移驱动件的固定端通过基座与机架固连,其驱动端与第三线激光扫描仪相连。
可选的,在至少一组从动轮的连接轴上还设有用于对从动轮的位移里程进行计数的编码器。
可选的,所述机架上还设有移动电源和控制系统,所述移动电源用于为走行装置、检测装置和控制系统提供电力,所述控制系统用于接收和处理检测装置和编码器所获得的数据、以及控制检测装置的开启和模式转换。
本发明还提供了一种APM轨道几何参数的检测方法,包括如下步骤:
步骤一、建立数据库:建立检测装置所需对APM轨道进行检测的任务栏以及APM轨道的标准参数;
步骤二、检测前准备:将第一线激光扫描仪、第二线激光扫描仪和第三激光扫描仪均归零,使第一线激光扫描仪、第二线激光扫描仪和第三线激光扫描仪处于初始状态;
步骤三、检测:启动检测装置对APM轨道的外轮廓进行扫描,得到实时检测的轮廓数据和编码器的实时里程数;
步骤四、数据处理:将扫描得到的轮廓数据换算成相应的几何参数,并将几何参数与标准参数进行对比、判断APM轨道的几何参数是否符合要求;
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