[发明专利]一种彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法

权利要求书

1.一种彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、标准样制作：

（1）选取表面平整均匀的镀锌板，裁切成相同大小后打磨毛刺，作为基板；

（2）将含有特征元素的无铬钝化剂与水按照1:5、1:10、1:15、1:20、1:25、1:30、1:35、1:40的重量比混合，分别以3#RDS不锈钢线棒和6#RDS不锈钢线棒将无铬钝化剂涂覆在脱脂后的基板上，PMT为60-90℃，获得不同厚度的钝化板；

（3）将钝化板制成直径为30-50mm圆片形或边长为30-35mm正方形的样片，用X射线荧光分析仪检测不同厚度样片中特征元素对应的谱线强度；

（4）检测不同厚度样片中特征元素的含量；

（5）选择特征元素含量呈梯度递增的样片作为标准样；

S2、标准曲线绘制：以标准样中特征元素元素含量为横坐标，以步骤（3）中测得的与该标准样中特征元素含量对应的谱线强度为纵坐标，绘制标准曲线；

S3、待测样选择与谱线强度检测：选取含有特征元素的无铬钝化剂涂覆样，制成直径为30-50mm圆片形或边长为30-35mm正方形的待测样，用X射线荧光分析仪检测待测样中特征元素的谱线强度；

S4、待测样中特征元素含量检测：根据标准曲线和待测样中特征元素的谱线强度，对待测样中特征元素含量进行定量分析，获得钝化膜中单位面积特征元素含量；

S5、待测样钝化膜膜重计算：根据钝化膜中单位面积特征元素含量确定钝化膜的膜重。

2.根据权利要求1所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于：所述步骤S1和步骤S3中，特征元素为硅或锆。

3.根据权利要求2所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，所述含有硅的待测样和标准样的谱线强度测试条件为：分析光谱为Ka，检测器为FPC，光管电压为30-50kV，光管电流为70-95mA，分光晶体为PET，峰位测量时间为20-40s，PHA为25-75。

4.根据权利要求3所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，含硅标准样的标准曲线方程为X1=1.7Y1-2.16，R²=0.999，其中Y1为标准样中硅元素的谱线强度，单位为kcps ；X1为标准样中硅元素谱线强度对于的硅元素含量，单位为mg/m²。

5.根据权利要求2所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，所述含有锆的待测样和标准样的谱线强度测试条件为：分析光谱为Ka，检测器为SC，光管电压为30-50kV，光管电流为70-95mA，分光晶体为LiF，峰位测量时间为20-40s，PHA为25-75。

6.根据权利要求5所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，含锆标准样的标准曲线是X2=-4.37Y2²+14.35Y2-1.93，R²=0.996，其中Y2为标准样中锆元素的谱线强度，单位为kcps ；X2为标准样中锆元素谱线强度对应的锆元素含量，单位为mg/m²。

7.根据权利要求1所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，所述步骤S5中待测样钝化膜膜重确定方法为：以待测样钝化膜中单位面积特征元素含量除以钝化剂中特征元素在固体份中的重量百分比，计算得到含有特征元素的钝化膜膜重。

8.据权利要求1所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，所述步骤S1中，样片中特征元素的含量由电感耦合等离子体发射光谱仪测得。

9.根据权利要求1所述的彩涂板无铬钝化膜膜重的测试方法，其特征在于，所述步骤S1中基板的脱脂方法为：将基板浸入质量百分数为2-4%，且温度为45-60℃的脱脂剂中，用纱布反复擦拭3-5min，取出，用自来水冲洗2-3min后，用纯水冲洗1-2min，烘干。