[发明专利]绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种绝缘子爬电距离的测量方法，其特征在于，所述测量方法包括：

获取待测量绝缘子的扫描图像；其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；

将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；

将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述图像提取模型包括下采样层、注意力提取层以及上采样层，所述下采样层、注意力提取层以及上采样层顺次连接；所述将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像的步骤，包括：

将所述扫描图像输入至下采样层经过编码过程进行图像缩小处理，获得缩小特征图像；

将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像；

将所述目标特征图像输入至上采样层经过解码过程进行图像放大处理，获得所述标记物图像。

3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述注意力提取层包括通道注意力提取层以及空间注意力提取层；所述将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像的步骤，包括：

将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像；

将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像。

4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像的步骤，包括：

将所述缩小特征图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第一描述特征图像；

将所述两个第一描述特征图根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取得到两个特征图像；

将所述两个特征图像进行图像处理后，基于预设的激活函数确定第一权重系数；

基于所述第一权重系数以及所述缩小特征图像，获得通道注意力图像。

5.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于，所述将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像的步骤，包括：

将所述通道注意力图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第二描述特征图像；

将所述两个第二描述特征图像根据特征信息在空间位置上的关系进行拼接后，经过卷积以及激活函数处理，确定第二权重系数；

基于所述第二权重系数以及所述通道注意力图像，获得目标特征图像。

6.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为爬电距离的步骤，包括：

将所述标记物图像通过预设方向的切割面进行切割，获取每相邻两个切割面之间的多段标记物点云数据；

针对于每一段标记物点云数据，将经过筛除后的该段标记物点云数据确定为标记物条带；

针对于每一段标记物条带，将所述该段标记物条带投影至所述切割面上，进行去噪、稀疏以及插值处理，确定所述该段标记物条带的长度；

将确定出的多段标记物条带的长度相加后获得所述标记物的长度，并将所述标记物的长度确定为爬电距离。