[发明专利]绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请提供了一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质，所述测量方法包括：获取待测量绝缘子的扫描图像；将扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；将标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将标记物的长度确定为待测量绝缘子的爬电距离。采用本申请提供的技术方案能够通过三维扫描设备获取绝缘子的扫描图像，利用预先训练好的图像提取模型提取附着在绝缘子上的标记物，计算标记物的长度，并将标记物的长度确定为爬电距离，实现了非接触式的绝缘子爬电距离测量，提高了爬电距离测量的效率以及准确性。

技术领域

本申请涉及三维测量的技术领域，尤其是涉及一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

绝缘子爬电距离是指正常施加运行电压的导电部分之间沿其表面的最短距离或最短距离之和。在不同的使用情况下，由于导体周围的绝缘材料被电极化，导致绝缘子呈现带电的现象。绝缘子爬电距离是否达标，深刻影响着操作人员的生命安全。

绝缘子表面光滑，由多段圆弧组成，爬电距离测量存在一定困难，目前绝缘子爬电距离主要通过人工手动进行测量，操作困难且效率低。因此，如何非接触式的对绝缘子爬电距离进行测量，成为了亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质，能够通过三维扫描设备获取绝缘子的扫描图像，利用预先训练好的图像提取模型提取附着在绝缘子上的标记物，计算标记物的长度，并将标记物的长度确定为爬电距离，实现了非接触式的绝缘子爬电距离测量，提高了爬电距离测量的效率以及准确性。

本申请主要包括以下几个方面：

第一方面，本申请实施例提供了一种绝缘子爬电距离的测量方法，所述测量方法包括：

获取待测量绝缘子的扫描图像；其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；

将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；

将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。

进一步的，所述图像提取模型包括下采样层、注意力提取层以及上采样层，所述下采样层、注意力提取层以及上采样层顺次连接；所述将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像的步骤，包括：

将所述扫描图像输入至下采样层经过编码过程进行图像缩小处理，获得缩小特征图像；

将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像；

将所述目标特征图像输入至上采样层经过解码过程进行图像放大处理，获得所述标记物图像。

进一步的，所述注意力提取层包括通道注意力提取层以及空间注意力提取层；所述将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像的步骤，包括：

将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像；

将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像。

进一步的，所述将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像的步骤，包括：

将所述缩小特征图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第一描述特征图像；