[发明专利]光学定位系统的精度检测方法、装置、设备及介质

权利要求书

1.一种光学定位系统的精度检测方法，其特征在于，应用于上位机，所述方法包括：

向可滑动设备发送控制指令，所述可滑动设备包括滑台和标记点阵列平板，所述控制指令用于控制所述标记点阵列平板在所述滑台上滑动，所述标记点阵列平板包括多个标记点；

接收所述可滑动设备反馈的所述标记点阵列平板在所述滑台上的滑动距离；

根据所述滑动距离、以及所述多个标记点的初始位置信息，确定所述多个标记点的第一位置信息；

接收光学定位系统检测到的所述多个标记点的第二位置信息；

根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述光学定位系统的定位精度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述滑动距离是所述标记点阵列平板在所述滑台上的当前位置与所述滑台上的原点之间的距离；

所述根据所述滑动距离、以及所述多个标记点的初始位置信息，确定所述多个标记点的第一位置信息，包括：

根据所述滑动距离、以及当所述标记点阵列平板位于所述原点时所述多个标记点在第一坐标系中的初始位置信息，确定所述标记点阵列平板位于所述当前位置时所述多个标记点在所述第一坐标系中的第一位置信息，所述第一坐标系是根据所述原点和所述滑台确定的；

所述接收光学定位系统检测到的所述多个标记点的第二位置信息，包括：

接收光学定位系统检测到的所述标记点阵列平板位于所述当前位置时所述多个标记点在第二坐标系中的第二位置信息。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述光学定位系统的定位精度，包括：

根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述标记点阵列平板位于所述当前位置时所述光学定位系统的定位精度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述光学定位系统的定位精度与所述标记点阵列平板在所述滑台上所处的位置相关。

5.一种光学定位系统的精度检测方法，其特征在于，应用于可滑动设备，所述可滑动设备包括滑台和标记点阵列平板，所述方法包括：

接收上位机发送的控制指令；

根据所述控制指令，控制所述标记点阵列平板在所述滑台上滑动，所述标记点阵列平板包括多个标记点；

向所述上位机发送所述标记点阵列平板在所述滑台上的滑动距离；

所述上位机用于：根据所述滑动距离、以及所述多个标记点的初始位置信息，确定所述多个标记点的第一位置信息；接收光学定位系统检测到的所述多个标记点的第二位置信息；根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述光学定位系统的定位精度。

6.一种光学定位系统的精度检测装置，其特征在于，所述光学定位系统的精度检测装置位于上位机中，所述光学定位系统的精度检测装置包括：

发送模块，用于向可滑动设备发送控制指令，所述可滑动设备包括滑台和标记点阵列平板，所述控制指令用于控制所述标记点阵列平板在所述滑台上滑动，所述标记点阵列平板包括多个标记点；

接收模块，用于接收所述可滑动设备反馈的所述标记点阵列平板在所述滑台上的滑动距离；

第一确定模块，用于根据所述滑动距离、以及所述多个标记点的初始位置信息，确定所述多个标记点的第一位置信息；

所述接收模块还用于：接收光学定位系统检测到的所述多个标记点的第二位置信息；

第二确定模块，用于根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述光学定位系统的定位精度。