[发明专利]光学定位系统的精度检测方法、装置、设备及介质

说明书

本公开涉及一种光学定位系统的精度检测方法、装置、设备及介质。本公开通过调整可滑动设备的位置、标记点阵列平板的形状、尺寸以及标记点在标记点阵列平板上的排列方式，可以不受空间限制实现对光学定位系统精度的检测，并且只需要上位机和可滑动设备就可以完成对光学定位系统精度的检测，提高了检测方法的灵活性的同时，以较低的成本达到了较好的精度检测效果。

技术领域

本公开涉及光学定位技术领域，尤其涉及一种光学定位系统的精度检测方法、装置、设备及介质。

背景技术

光学定位系统例如双目红外光学定位系统在测量和导航领域有着非常广泛的应用。在大多数的光学定位应用中，光学定位系统的精度是较为重要的指标。因此，如何检验光学定位系统的定位精度成为一个非常重要的课题。

目前利用高精度的三坐标测量机采集空间中各个物体的位置信息，并比较三坐标测量机采集到的空间中各个物体的位置信息与光学定位系统检测到的空间中各个物体的位置信息，从而得到光学定位系统的定位精度。

但是，三坐标测量机的成本较大，且利用三坐标测量机采集物体位置信息的过程较为繁琐，需要耗费大量的时间。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种光学定位系统的精度检测方法、装置、设备及介质，以更低的成本达到精确的精度检测结果。

第一方面，本公开实施例提供一种光学定位系统的精度检测方法，应用于上位机，所述方法包括：

向可滑动设备发送控制指令，所述可滑动设备包括滑台和标记点阵列平板，所述控制指令用于控制所述标记点阵列平板在所述滑台上滑动，所述标记点阵列平板包括多个标记点；

接收所述可滑动设备反馈的所述标记点阵列平板在所述滑台上的滑动距离；

根据所述滑动距离、以及所述多个标记点的初始位置信息，确定所述多个标记点的第一位置信息；

接收光学定位系统检测到的所述多个标记点的第二位置信息；

根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述光学定位系统的定位精度。

第二方面，本公开实施例提供一种光学定位系统的精度检测方法，应用于可滑动设备，所述可滑动设备包括滑台和标记点阵列平板，所述方法包括：

接收上位机发送的控制指令；

根据所述控制指令，控制所述标记点阵列平板在所述滑台上滑动，所述标记点阵列平板包括多个标记点；

向所述上位机发送所述标记点阵列平板在所述滑台上的滑动距离；

所述上位机用于：根据所述滑动距离、以及所述多个标记点的初始位置信息，确定所述多个标记点的第一位置信息；接收光学定位系统检测到的所述多个标记点的第二位置信息；根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述光学定位系统的定位精度。

第三方面，本公开实施例提供一种光学定位系统的精度检测装置，所述光学定位系统的精度检测装置位于上位机中，所述光学定位系统的精度检测装置包括：

发送模块，用于向可滑动设备发送控制指令，所述可滑动设备包括滑台和标记点阵列平板，所述控制指令用于控制所述标记点阵列平板在所述滑台上滑动，所述标记点阵列平板包括多个标记点；

接收模块，用于接收所述可滑动设备反馈的所述标记点阵列平板在所述滑台上的滑动距离；

第一确定模块，用于根据所述滑动距离、以及所述多个标记点的初始位置信息，确定所述多个标记点的第一位置信息；

所述接收模块还用于：接收光学定位系统检测到的所述多个标记点的第二位置信息；

第二确定模块，用于根据所述多个标记点的第一位置信息和所述多个标记点的第二位置信息，确定所述光学定位系统的定位精度。