[发明专利]一种铟银合金高真空密封性能检测方法

权利要求书

1.一种铟银合金高真空密封性能检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1：按照铟银合金密封产品的生产工艺，制造铟银合金密封产品，并从中抽取铟银合金密封产品样本；

步骤2：通过挤压密封工装以及挤压密封系统对铟银合金密封产品的样本进行挤压密封，模拟密封产品的工作情况；

步骤3：通过环境工况模拟系统对铟银合金密封样本进行实际环境工况模拟；

步骤4：通过快速气路接头，将铟银合金密封样本与真空抽气系统连接，并且抽气至本底；

步骤5：打开真空截止阀，通过氦质谱检漏仪完成铟银合金密封产品样本漏率的检测，即得到铟银合金高真空密封产品的漏率。

2.如权利要求1所述的铟银合金高真空密封性能检测方法，其特征在于，所述铟银合金密封产品样本是从同一批次铟银合金密封产品中抽取出来的产品样本。

3.如权利要求2所述的铟银合金高真空密封性能检测方法，其特征在于，所述铟银合金密封产品包括密封盖体、铟银合金以及密封筒体。

4.如权利要求1所述的铟银合金高真空密封性能检测方法，其特征在于，步骤3中，所述环境工况模拟系统包括高温环境模拟系统、低温环境模拟系统、高低温冲击环境模拟系统以及常温环境模拟系统。