[发明专利]一种铟银合金高真空密封性能检测方法

说明书

本申请涉及空间真空密封技术领域，具体而言，涉及一种铟银合金高真空密封性能检测方法，包括如下步骤：步骤1：抽取铟银合金密封产品样本；步骤2：对铟银合金密封产品的样本进行挤压密封，模拟密封产品的工作情况；步骤3：通过环境工况模拟系统对铟银合金密封样本进行实际环境工况模拟；步骤4：通过快速气路接头，将铟银合金密封样本与真空抽气系统连接，并且抽气至本底；步骤5：打开真空截止阀，通过氦质谱检漏仪完成铟银合金密封产品样本漏率的检测，即得到铟银合金高真空密封产品的漏率。本申请能够模拟铟银合金密封产品所经历的各种空间环境，对铟银合金密封产品的漏率进行检测。

技术领域

本申请涉及空间真空密封技术领域，具体而言，涉及一种铟银合金高真空密封性能检测方法。

背景技术

我国探月三期工程主要任务目标是实现月面无人采样返回，突破月面表取采样、钻取采样，月球样品封装技术，月球样品封装技术是将采集的月球样品在高真空环境下采用软金属铟银合金进行密封，然后将月球样品原样带回地球，再对月球样品进行分析研究，其中低漏率高真空密封性能是防止月球样品被大气环境污染，保证地面对月球样品数据分析准确性的关键技术。

应用于月球封装技术的密封产品是一次性产品，它的密封性能是不能在地面或天上进行检测，属于不可测试项。

在地面发射阶段，铟银合金密封产品还没有采集月球样品，还没有进行挤压密封，因此地面发射阶段不需要进行密封性能的检测；在飞行阶段，铟银合金密封产品对月球样品进行挤压密封，但是，由于无人状态和高真空环境，铟银合金密封产品的漏率是无法检测的；在返回地面阶段，采用气泡法或其它方法可以对铟银合金高真空密封性能进行检测，但这只是定性的判断是否有泄露，不能定量的检测产品的漏率。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种铟银合金高真空密封性能检测方法，能够模拟铟银合金密封产品所经历的各种空间环境，对铟银合金密封产品的漏率进行检测。

为了实现上述目的，本申请提供了一种铟银合金高真空密封性能检测方法，包括如下步骤：步骤1：按照铟银合金密封产品的生产工艺，制造铟银合金密封产品，并从中抽取铟银合金密封产品样本；步骤2：通过挤压密封工装以及挤压密封系统对铟银合金密封产品的样本进行挤压密封，模拟密封产品的工作情况；步骤3：通过环境工况模拟系统对铟银合金密封样本进行实际环境工况模拟；步骤4：通过快速气路接头，将铟银合金密封样本与真空抽气系统连接，并且抽气至本底；步骤5：打开真空截止阀，通过氦质谱检漏仪完成铟银合金密封产品样本漏率的检测，即得到铟银合金高真空密封产品的漏率。

进一步的，铟银合金密封产品样本是从同一批次铟银合金密封产品中抽取出来的产品样本。

进一步的，铟银合金密封产品包括密封盖体、铟银合金以及密封筒体。

进一步的，步骤3中，环境工况模拟系统包括高温环境模拟系统、低温环境模拟系统、高低温冲击环境模拟系统以及常温环境模拟系统。

本发明提供的一种铟银合金高真空密封性能检测方法，具有以下有益效果：

本申请通过同批次产品抽检、模拟产品工况以及检测抽取样本的漏率，可以定量的检测铟银合金密封产品的漏率，解决了铟银合金密封产品生产一致性以及铟银合金密封产品漏率无法在产品本体上进行检验的问题，实现了在各种不同工况下，对铟银合金高真空密封性能的检测，此外，还制定了铟银合金高真空密封产品的生产工艺路线，保证了铟银合金高真空密封产品的一致性。

附图说明

构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1是根据本申请实施例提供的一种铟银合金高真空密封性能检测方法的示意图；