[发明专利]一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法

权利要求书

1.一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，其特征在于：包括如下步骤，

S1、将单匝闭环的铁芯放置在测试架上，所述铁芯固有的饱和磁通密度为B_s，设定所述铁芯的工作磁通密度为B_m，且B_m≤B_s；

S2、将数据采集装置的两个测试夹分别经铁芯两端穿入铁芯内并相互夹紧，使夹紧后的测试夹保留在铁芯内；通过数据采集装置采集所述铁芯的串联电感Ls和品质因数Q，并记录为字符串信息；

S3、使所述数据处理装置与数据采集装置通信连接，将步骤S2的字符串信息写入至数据处理装置，经数据处理装置读取，将字符串信息转化为数值信息；

S4、所述数据处理装置读取步骤S3的数值信息，基于计算公式A对铁芯进行在工作磁通密度B_m值下的损耗值P，其计算公式A如下：

式中，B_m为工作磁通密度，Ls是铁芯的电感，Le是铁芯磁路的等效长度，Ae是铁芯的等效截面积，Q是铁芯的品质因数，π是圆周率，ρ为铁芯的密度，f为设定数据采集装置频率。

S5、基于设定的损耗值P范围，将步骤S4计算所得的损耗值P在所述损耗值P范围内的铁芯筛选出来。

2.如权利要求1所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，其特征在于，所述数据处理装置内设定有用于将字符串信息转化为数值信息的数据采集程序。

3.如权利要求2所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，步骤S3包括如下步骤，所述数据采集程序工作界面的通讯端口、波特率、比特率的设定与所述数据采集装置的通讯端口、波特率、比特率的设定一致，使所述数据处理装置与数据采集装置通信连接。

4.如权利要求3所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，其特征在于，步骤S3还包括：

S31、将数据采集装置的字符串信息写入数据采集程序后，所述数据采集程序对所述字符串信息进行读取；

S32、所述数据采集程序将该字符串信息进行拆分成两段字符串信息，两段字符串信息之间设置有分隔符进行分隔，所述分隔符前的字符串信息为串联电感Ls的字符串信息，所述分隔符后的字符串信息为品质因数Q的字符串信息；

S33、将步骤S32中串联电感Ls的字符串信息通过转化为串联电感Ls的数值信息；将步骤S32中品质因数Q的字符串信息通过转化为品质因数Q的数值信息；

S34、将步骤S33所得的数值信息通过显视控件显示。

5.如权利要求4所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，其特征在于，所述步骤S31还设定有字符串信息总量，读取到所述字符串信息总量后就停止读取。

6.如权利要求4所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，其特征在于，所述步骤S32中，设定有第一字符串长度X₁和第二字符串长度X₂，所述字符串信息的长度通过所述分隔符分隔成两个长度的字符串信息，所述分隔符前的字符串信息的长度为所述第一字符串长度X₁，所述分隔符后的字符串信息的长度为所述第二字符串长度X₂，先读取所述分隔符前的所述第一字符串长度X₁的字符串信息，将其记录为所述串联电感Ls的字符串信息，再读取所述分隔符后的所述第二字符串长度X₂的字符串信息，将其记录为所述品质因数Q的字符串信息。