[发明专利]一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法

说明书

本发明公开了一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，其步骤，S1、将单匝闭环的铁芯放置在测试架上，铁芯固有的饱和磁通密度为B_s，设定铁芯的工作磁通密度为B_m，且B_m≤B_s；S2、将数据采集装置的两个测试夹分别经铁芯两端穿入铁芯内并相互夹紧，使夹紧后的测试夹保留在铁芯内；通过数据采集装置采集铁芯的串联电感Ls和品质因数Q，并记录为字符串信息；S3、使数据处理装置与数据采集装置通信连接，将步骤S2的字符串信息写入、读取，将字符串信息转化为数值信息；S4、数据处理装置读取步骤S3的数值信息，基于计算公式A对铁芯进行在工作磁通密度B_m值下的损耗值P；S5、将步骤S4计算所得的损耗值P在损耗值P范围内的铁芯筛选出来。

技术领域

本发明涉及铁芯筛选方法技术领域，特别涉及一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法。

背景技术

铁芯作为磁性器件的核芯部件，而铁芯的损耗直影响器件的效率及温升问题，铁芯的损耗大小直接影响器件的设计，特别是变压器在设计时必须将铁芯损耗规定在特定的范围内，否则直接影响变压器的转化效率。在实际应用中，为更好地实现产品性能，需要筛选出符合要求的铁芯，因此，需要先模拟铁芯在某个工作磁通密度状态下铁芯的损耗值，再挑选出符合损耗值范围要求的铁芯。

目前铁芯损耗模拟测试方案较为复杂，需要测试如电感、阻抗、频率等多组数据才能得到损耗值，计算相对复杂，测试速度慢。

另一方面，目前市面上铁芯损耗模拟测试方案所用的仪器较少，大部分都采用测量加计算的方法，因为能测量铁芯损耗值的仪器价格昂贵，且不能满足生产的快速测试。如：湖南联众生产的“MATS-2010SA软磁直流测理装置”市场售价格15万元人民币、台日本岩崎BH分析仪以及“SY-8219与SY-8218软磁交流特性测试”按频率及功率配制不同约50-200万人民币，湖南联众MATS-2010SA测量损耗速度约20秒/次、日本岩崎的SY-8219与SY-8218BH测量损耗的速度约90秒/次。

LCR测试仪是能够测量电感，电容，阻抗的仪器，但将LCR测试仪应用到铁芯损耗值的模拟测试时，需要解决将仪器的测量值采集到电脑用于程序运算的问题。这是因为仪器设备厂商不提供采集程序代码，但是仪器提供了数据接口，所以要想进行二次开发运算，利用仪器的测试值通过数据接口采集到电脑，因此需要专门编写采集程序。

发明内容

本发明的目的在于为克服现有技术的不足而提供一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，提供了一种快速筛选出符合要求的铁芯的方案，解决现有技术存在的筛选步骤繁杂、数据获取速度慢、数据获取成本高以及二次开发运算中数据采集的问题，避免了手工输入数据的各种不足，同时，也无需购置新设备，节约了成本。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法，包括如下步骤，

S1、将单匝闭环的铁芯放置在测试架上，所述铁芯固有的饱和磁通密度为B_s，设定所述铁芯的工作磁通密度为B_m，且B_m≤B_s；

S2、将数据采集装置的两个测试夹分别经铁芯两端穿入铁芯内并相互夹紧，使夹紧后的测试夹保留在铁芯内；通过数据采集装置采集所述铁芯的串联电感Ls和品质因数Q，并记录为字符串信息；

S3、使所述数据处理装置与数据采集装置通信连接，将步骤S2的字符串信息写入至数据处理装置，经数据处理装置读取，将字符串信息转化为数值信息；

S4、所述数据处理装置读取步骤S3的数值信息，基于计算公式A对铁芯进行在工作磁通密度B_m值下的损耗值P，其计算公式A如下：