[发明专利]温度自校准方法、温度测量网络、电子器件及电子设备在审

专利信息
申请号: 202111490949.0 申请日: 2021-12-08
公开(公告)号: CN114235215A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 张振亮;金军贵 申请(专利权)人: 成都海光微电子技术有限公司
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 杨奇松
地址: 610000 四川省成都市高新区中国(四川)自由贸易试*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 温度 校准 方法 测量 网络 电子器件 电子设备
【权利要求书】:

1.一种温度自校准方法,其特征在于,应用于控制器上,所述控制器与至少一个模拟温度传感器ATS和至少一个数字温度传感器DTS连接;所述DTS布设在所述ATS周围,且所述ATS和所述DTS布设于芯片的测温区域上;所述方法包括:

获取所述ATS检测到的第一温度数据和所述DTS检测到的数字码;

以所述第一温度数据为基准,根据所述第一温度数据和所述DTS检测到的数字码,确定所述DTS的最新校准参数;

将所述DTS的校准参数更新为所述最新校准参数。

2.如权利要求1所述的温度自校准方法,其特征在于,以所述第一温度数据为基准,根据所述第一温度数据和所述DTS检测到的数字码,确定所述DTS的最新校准参数,包括:

根据所述DTS当前时刻检测到的数字码和所述DTS当前的校准参数,计算出所述DTS的第二温度数据;

根据所述第一温度数据和所述第二温度数据之间的差异,确定所述DTS的最新校准参数。

3.如权利要求2所述的温度自校准方法,其特征在于,根据所述第一温度数据和所述第二温度数据之间的差异,确定所述DTS的最新校准参数,包括:

根据所述第一温度数据和所述第二温度数据,计算所述DTS的温度误差;

根据所述温度误差和所述DTS当前时刻检测到的数字码,计算得到参数偏差;

根据所述DTS当前的校准参数和所述参数偏差,确定出所述DTS的最新校准参数。

4.如权利要求3所述的温度自校准方法,其特征在于,根据所述温度误差和所述DTS当前时刻检测到的数字码,计算得到参数偏差,包括:

按照以下公式计算得到参数偏差:

ΔA=μ·(TempDTS-TempATS)·[0 x0 x1 … xn-1]-1

其中,ΔA为参数偏差,μ为预设常量,TempDTS为第二温度数据,TempATS为第一温度数据,x为数字码。

5.如权利要求1所述的温度自校准方法,其特征在于,获取所述ATS检测到的第一温度数据和所述DTS检测到的数字码,包括:

获取所述ATS在n个时刻分别检测到的第一温度数据和所述DTS在所述n个时刻分别检测到的数字码;所述n为预设的大于1的正整数;

以所述第一温度数据为基准,根据所述第一温度数据和所述DTS检测到的数字码,确定所述DTS的最新校准参数,包括:

以各时刻的第一温度数据作为所述DTS在各时刻应当测得的标准温度数据,构建以最新校准参数为未知量的,与所述第一温度数据、最新校准参数和数字码相关的方程组;

对所述方程组求解,得到所述最新校准参数。

6.如权利要求1所述的温度自校准方法,其特征在于,在以所述第一温度数据为基准,根据所述第一温度数据和所述DTS检测到的数字码,确定所述DTS的最新校准参数之前,所述方法还包括:

根据所述DTS当前时刻检测到的数字码和所述DTS当前的校准参数,计算出所述DTS的第二温度数据;

根据所述第一温度数据和所述第二温度数据,计算所述DTS的温度误差;

确定所述DTS的温度误差未在预设的温度误差允许范围内。

7.如权利要求1-5任一项所述的温度自校准方法,其特征在于,所述ATS为多个,布设在所述芯片的不同测温区域上;所述DTS为多个,分别布设在至少一个所述ATS的周围;所述控制器内预先记录有各所述DTS与各所述DTS所对对应的ATS的对应关系;

以所述第一温度数据为基准,根据所述第一温度数据和所述DTS检测到的数字码,确定所述DTS的最新校准参数,包括:

根据所述对应关系,确定当前待校准的DTS对应的目标ATS;

以所述目标ATS的第一温度数据为基准,根据所述目标ATS的第一温度数据和所述当前待校准的DTS检测到的数字码,确定所述当前待校准的DTS的最新校准参数。

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