[发明专利]触碰检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质在审
申请号: | 202111491453.5 | 申请日: | 2021-12-08 |
公开(公告)号: | CN114419148A | 公开(公告)日: | 2022-04-29 |
发明(设计)人: | 盛典;张圆;林垠;殷保才 | 申请(专利权)人: | 科大讯飞股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/73 | 分类号: | G06T7/73;G06T7/11;G06T7/00;G06T5/30;G06N3/08;G06V10/74;G06V10/82 |
代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 刘希 |
地址: | 230088 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 方法 装置 设备 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种触碰检测方法,其特征在于,包括:
获取对触碰检测平面拍摄到的第一图像和第二图像;
分别对所述第一图像和所述第二图像进行目标检测,得到目标对象的目标部位分别在所述第一图像中的第一图像位置和在所述第二图像中的第二图像位置;
对所述第一图像位置和所述第二图像位置进行联合分析,得到触碰检测结果;其中,所述触碰检测结果包括所述目标部位是否触碰到所述触碰检测平面。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一图像位置和所述第二图像位置进行联合分析,得到触碰检测结果,包括:
基于所述第一图像位置,从所述第一图像中提取第一区域图像,并基于所述第二图像位置,从所述第二图像中提取第二区域图像;
基于所述第一区域图像中属于所述目标对象的第一像素点,得到所述目标部位在所述第一图像中的第一优化位置,并基于所述第二区域图像中属于所述目标对象的第二像素点,得到所述目标部位在所述第二图像中的第二优化位置;
对所述第一优化位置和所述第二优化位置进行联合分析,得到所述触碰检测结果。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述目标部位位于所述目标对象的端部,所述第一优化位置或所述第二优化位置的获取步骤包括:
对区域图像进行目标分割,得到所述目标对象的掩膜图像;其中,属于所述目标对象的像素点在所述掩膜图像中的像素值均为第一数值;
基于所述掩膜图像,获取所述目标对象的中心线和边缘;
基于所述中心线与所述边缘的交点,得到所述目标对象的优化位置;
其中,在所述区域图像为所述第一区域图像的情况下,所述优化位置为所述第一优化位置,在所述区域图像为所述第二区域图像的情况下,所述优化位置为所述第二优化位置。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一区域图像和所述第二区域图像具有相同尺寸,且所述第一图像位置与所述第一区域图像的相对位置、所述第二图像位置与所述第二区域图像的相对位置两者相同。
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述第一优化位置和所述第二优化位置进行联合分析,得到所述触碰检测结果,包括:
基于所述第一优化位置,从所述第一图像提取第一参考图像,并基于所述第二优化位置,从所述第二图像提取第二参考图像;其中,所述第一参考图像和所述第二参考图像具有相同尺寸;
分别将所述第一参考图像、所述第二参考图像沿相同方向,等分为预设数值个第一子图像和所述预设数值个第二子图像,并将排在相同序位处的所述第一子图像和所述第二子图像组成一组子图像对;
分别获取各组子图像对中匹配点对的坐标差值;其中,所述匹配点对包括来自所述第一子图像的第一特征点和来自所述第二子图像的第二特征点;
基于各个所述匹配点对的坐标差值,得到所述触碰检测结果。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于各个所述匹配点对的坐标差值,得到所述触碰检测结果,包括:
统计各个所述匹配点对的坐标差值,得到最终差值;
在所述最终差值低于预设阈值的情况下,确定所述触碰检测结果包括所述目标部位触碰到所述触碰检测平面;
在所述最终差值不低于所述预设阈值的情况下,确定所述触碰检测结果包括所述目标部位未触碰到所述触碰检测平面。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述分别获取各组子图像对中匹配点对的坐标差值,包括:
获取所述匹配点对中所述第一特征点和所述第二特征点,分别在所述第一参考图像和所述第二参考图像中的第一像素坐标和第二像素坐标;
基于所述第一像素坐标和所述第二像素坐标之间差值的绝对值,得到所述匹配点对的坐标差值。
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