[发明专利]触碰检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种触碰检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质，该方法包括：获取对触碰检测平面拍摄到的第一图像和第二图像；分别对第一图像和第二图像进行目标检测，得到目标对象的目标部位分别在第一图像中的第一图像位置和在第二图像中的第二图像位置；对第一图像位置和第二图像位置进行联合分析，得到触碰检测结果；其中，触碰检测结果包括目标部位是否触碰到触碰检测平面。上述方案，能够提高触碰检测结果的精度，且成本较低。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种触碰检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质。

背景技术

目前，指尖触碰检测技术或产品大多需要配套的压力传感器，压力传感器的布置范围和密度决定了触碰效果，如需大面积的触碰检测，则需要配置大型号的压力传感器，极大地限制了使用场景。

另外，在通用场景中基于视觉的触碰方案需要配置深度相机、结构光相机等特殊功能设备，增大了使用难度和成本。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种触碰检测方法、装置、设备和计算机可读存储介质，能够提高触碰检测结果的精度，且成本较低。

为了解决上述技术问题，本申请第一方面提供了一种触碰检测方法，包括：获取对触碰检测平面拍摄到的第一图像和第二图像；分别对第一图像和第二图像进行目标检测，得到目标对象的目标部位分别在第一图像中的第一图像位置和在第二图像中的第二图像位置；对第一图像位置和第二图像位置进行联合分析，得到触碰检测结果；其中，触碰检测结果包括目标部位是否触碰到触碰检测平面。

其中，对第一图像位置，从第一图像中提取第一区域图像，并基于第二图像位置，从第二图像中提取第二区域图像；基于第一区域图像中属于目标对象的第一像素点，得到目标部位在第一图像中的第一优化位置，并基于第二区域图像中属于目标对象的第二像素点，得到目标部位在第二图像中的第二优化位置；对第一优化位置和第二优化位置进行联合分析，得到触碰检测结果。

其中，目标部位位于目标对象的端部，第一优化位置或第二优化位置的获取步骤包括：对区域图像进行目标分割，得到目标对象的掩膜图像；其中，属于目标对象的像素点在掩膜图像中的像素值均为第一数值；基于掩膜图像，获取目标对象的中心线和边缘；基于中心线与边缘的交点，得到目标对象的优化位置；其中，在区域图像为第一区域图像的情况下，优化位置为第一优化位置，在区域图像为第二区域图像的情况下，优化位置为第二优化位置。

其中，第一区域图像和第二区域图像具有相同尺寸，且第一图像位置与第一区域图像的相对位置、第二图像位置与第二区域图像的相对位置两者相同。

其中，对第一优化位置和第二优化位置进行联合分析，得到触碰检测结果，包括：基于第一优化位置，从第一图像提取第一参考图像，并基于第二优化位置，从第二图像提取第二参考图像；其中，第一参考图像和第二参考图像具有相同尺寸；分别将第一参考图像、第二参考图像沿相同方向，等分为预设数值个第一子图像和预设数值个第二子图像，并将排在相同序位处的第一子图像和第二子图像组成一组子图像对；分别获取各组子图像对中匹配点对的坐标差值；其中，匹配点对包括来自第一子图像的第一特征点和来自第二子图像的第二特征点；基于各个匹配点对的坐标差值，得到触碰检测结果。

其中，基于各个匹配点对的坐标差值，得到触碰检测结果，包括：统计各个匹配点对的坐标差值，得到最终差值；在最终差值低于预设阈值的情况下，确定触碰检测结果包括目标部位触碰到触碰检测平面；在最终差值不低于预设阈值的情况下，确定触碰检测结果包括目标部位未触碰到触碰检测平面。

其中，分别获取各组子图像对中匹配点对的坐标差值，包括：获取匹配点对中第一特征点和第二特征点，分别在第一参考图像和第二参考图像中的第一像素坐标和第二像素坐标；基于第一像素坐标和第二像素坐标之间差值的绝对值，得到匹配点对的坐标差值。