[发明专利]迁移率侦测补偿方法和显示装置有效
申请号: | 202111493245.9 | 申请日: | 2021-12-08 |
公开(公告)号: | CN114038422B | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 窦维 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
主分类号: | G09G3/3208 | 分类号: | G09G3/3208;G09G3/3291;G09G3/3258 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 马广旭 |
地址: | 518132 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 迁移率 侦测 补偿 方法 显示装置 | ||
本申请提供一种迁移率侦测补偿方法和显示装置。本申请提供的迁移率侦测补偿方法中,开关晶体管和感测晶体管由同一扫描线控制。在这种驱动时序方式下,本申请首先初始化第一节点和第二节点的电压,然后让驱动晶体管的源极的电压在侦测时间内抬升,再通过侦测第二节点的电压,并根据第二节点的电压以及预设电压推导出一种新的驱动晶体管的迁移率补偿系数的计算公式,可以通过补偿系数计算方法的优化,更准确反应驱动晶体管间迁移率的差异,从而提升补偿效果。
技术领域
本申请涉及显示技术领域,具体涉及一种迁移率侦测补偿方法和显示装置。
背景技术
有机发光二极管显示装置按照驱动方式分为无源矩阵型和有源矩阵型两大类,即直接寻址和薄膜晶体管矩阵寻址两大类。在有源矩阵型这种驱动方式下,像素驱动电路设有用于驱动有机发光二极管发光的驱动晶体管。由于驱动晶体管工作在饱和区,流过驱动晶体管的电流大小会受到驱动晶体管自身的迁移率的影响。因此为了保证有机发光二极管显示装置的显示亮度的均匀性,需要对不同子像素之间的驱动晶体管的迁移率差异进行补偿。
当前大尺寸有机发光二极管显示装置大多采用3T(3个晶体管)驱动架构。但相较2T(2个晶体管)驱动架构,3T驱动需要增加一条扫描线来控制新增的开关晶体管。这就导致显示装置的开口率减小、边框区域变宽,且增加的扫描线需要驱动芯片控制时序输出,导致驱动芯片的成本也会增加。若只使用一条扫描线同时控制两个开关晶体管,虽然可以解决上述问题,但在进行驱动晶体管的迁移率侦测时,只能保持两个开关晶体管全部打开,无法满足侦测过程中流过驱动晶体管的电流恒定。这将导致不同像素侦测得到的驱动电压与迁移率关系不满足线性关系。这样在只使用一条扫描线的驱动架构中,如果继续采用原来恒流时序下的迁移率侦测补偿方法,将难以准确反映驱动晶体管间迁移率差异,导致补偿不足。
发明内容
本申请提供一种迁移率侦测补偿方法和显示装置,可以通过补偿系数计算方法的优化,更准确反应驱动晶体管间迁移率的差异,从而提升补偿效果。
本申请提供一种迁移率侦测补偿方法,其包括:
步骤B1、提供像素;所述像素包括驱动晶体管、开关晶体管、感测晶体管、电容以及发光元件,所述驱动晶体管的栅极、所述开关晶体管的源极以及所述电容的第一端均与所述第一节点电连接,所述驱动晶体管的源极、所述发光元件的第一极、所述感测晶体管的漏极以及所述电容的第二端均与所述第二节点电连接,所述驱动晶体管的漏极与第一电源电连接,所述开关晶体管的栅极和所述感测晶体管的栅极均与扫描线电连接,所述开关晶体管的漏极与数据线电连接,所述感测晶体管的源极与采样线电连接,所述发光元件的第二极与第二电源电连接,n为大于0的整数;
步骤B2、初始化所述第一节点和所述第二节点的电压,以使得所述驱动晶体管导通;
步骤B3、间隔预设时间段后,对所述第二节点的电压进行侦测;
步骤B4、根据所述第二节点的电压以及预设电压得到所述驱动晶体管的迁移率补偿系数为其中,n表示第n个像素,Ktrg为预设迁移率系数,Kn表示第n个像素中驱动晶体管的实际迁移率系数,Vtrg为所述预设电压,Vsn为对第n个像素中所述第二节点的电压进行侦测得到的电压,Vref为初始化所述第二节点时的初始源极电压,n为大于0的整数。
可选的,在本申请一些实施例中,当初始化所述第一节点和所述第二节点的电压时,所述步骤B2具体包括:所述扫描线供应扫描信号,使得所述开关晶体管和所述感测晶体管导通,所述数据线供应初始数据电压至所述第一节点,所述采样线供应预设源极电压至所述第二节点;
其中,Vdata’=Vdata+Vth,Vdata’为所述初始数据电压,Vdata表示驱动所述像素的预设驱动电压,Vth表示所述驱动晶体管的实际阈值电压。
可选的,在本申请一些实施例中,在所述步骤B1之前,所述迁移率侦测补偿方法还包括对所述驱动晶体管的阈值电压进行侦测,以得到所述驱动晶体管的实际阈值电压。
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