[发明专利]一种半导体器件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202111497512.X 申请日: 2021-12-09
公开(公告)号: CN114242851A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 李全同;刘珠明;王长安;宋鹏程;张衍俊;陈志涛 申请(专利权)人: 广东省科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/02
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 王忠宝
地址: 510651 广*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 半导体器件 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种半导体器件制作方法,其特征在于,所述半导体器件制作方法包括:

提供一衬底;

基于所述衬底生长氮化镓层;

对所述氮化镓层进行铟掺杂,其中,掺杂后的铟组分大于9.5%;

基于掺杂后的氮化镓层生长外延层,以制作半导体器件。

2.如权利要求1所述的半导体器件制作方法,其特征在于,掺杂后的铟组分位于9.5%~20%之间。

3.如权利要求2所述的半导体器件制作方法,其特征在于,掺杂后的铟组分位于13%~20%之间。

4.如权利要求3所述的半导体器件制作方法,其特征在于,掺杂后的铟组分等于20%。

5.如权利要求1所述的半导体器件制作方法,其特征在于,所述提供一衬底的步骤包括:

提供一蓝宝石衬底;

所述基于所述衬底生长氮化镓层的步骤包括:

基于所述蓝宝石衬底生长氮化镓层。

6.如权利要求1所述的半导体器件制作方法,其特征在于,所述基于掺杂后的氮化镓层生长外延层的步骤包括:

基于所述掺杂后的氮化镓层生长发光层,以制作半导体发光器件。

7.一种半导体器件,其特征在于,所述半导体器件包括:

衬底;

与衬底连接的掺铟氮化镓层,其中,所述掺铟氮化镓层中铟组分大于9.5%;

与所述掺铟氮化镓层相连的外延层。

8.如权利要求7所述的半导体器件,其特征在于,所述掺铟氮化镓层中的铟组分位于9.5%~20%之间。

9.如权利要求8所述的半导体器件,其特征在于,所述掺铟氮化镓层中的铟组分位于13%~20%之间。

10.如权利要求7所述的半导体器件,其特征在于,当所述半导体器件为半导体发光器件时,所述外延层包括发光层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东省科学院半导体研究所,未经广东省科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202111497512.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top