[发明专利]一种SMR硬盘的性能测试方法和系统

权利要求书

1.一种SMR硬盘的性能测试方法，其特征在于，包括：

查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息；

将写指针重置到所述逻辑区块地址的起始位置；

使用libzbc库包含的测试工具，控制所述写指针从所述起始位置对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试；

根据所述写操作性能测试的测试结果，生成测试日志。

2.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息的步骤，包括：

查询所述SMR硬盘的逻辑区块地址的起始位置和大小；以及，

查询所述数据块信息所包含所有数据块的数量和位置。

3.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述控制写指针从所述起始位置对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试的步骤，包括：

根据所述起始位置，计算所述写指针到SMR硬盘中特定数据块信息的偏移量；

使用所述libzbc库包含的测试工具，控制所述写指针跳过所述SMR硬盘的C-Zone数据块信息；

根据所述偏移量，控制所述写指针从所述起始位置开始依次对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作。

4.根据权利要求1所述的性能测试方法，其特征在于，所述根据所述写操作性能测试的测试结果，生成测试日志的步骤，包括：

使用所述libzbc库包含的测试工具，获取每个所述特定数据块信息的写操作测试结果；

将所述写操作测试结果生成测试日志并按预定格式存储至数据库中。

5.根据权利要求3或4所述的性能测试方法，其特征在于，还包括：

当获取特定数据块信息的写操作测试结果后，将所述写指针重置到所述逻辑区块地址的起始位置；

根据下一数据块的大小，重新计算所述写指针的偏移量；

按照所述偏移量，控制所述写指针对所述下一数据块进行写操作；

依次执行上述步骤，直至获取到所述SMR磁盘中每个所述特定数据块信息的写操作测试结果。

6.一种SMR硬盘的性能测试系统，其特征在于，包括：

查询模块，用于查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息；

第一重置模块，用于将写指针重置到所述逻辑区块地址的起始位置；

测试模块，用于使用libzbc库包含的测试工具，控制所述写指针从所述起始位置对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试；

生成模块，用于根据所述写操作性能测试的测试结果，生成测试日志。

7.根据权利要求6所述的性能测试系统，其特征在于，所述查询模块，包括：

逻辑区块地址查询子模块，用于查询所述SMR硬盘的逻辑区块地址的起始位置和大小；以及，

数据块查询子模块，用于查询所述数据块信息所包含所有数据块的数量和位置。

8.根据权利要求6所述的性能测试系统，其特征在于，所述测试模块，包括：

偏移量计算子模块，用于根据所述起始位置，计算所述写指针到SMR硬盘中特定数据块信息的偏移量；

写指针控制子模块，用于使用所述libzbc库包含的测试工具，控制所述写指针跳过所述SMR硬盘的C-Zone数据块信息；

写操作执行子模块，用于根据所述偏移量，控制所述写指针从所述起始位置开始依次对所述SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作。

9.根据权利要求6所述的性能测试系统，其特征在于，所述生成模块，包括：

结果获取子模块，用于使用所述libzbc库包含的测试工具，获取每个所述特定数据块信息的写操作测试结果；

日志存储子模块，用于将所述写操作测试结果生成测试日志并按预定格式存储至数据库中。

10.根据权利要求8或9所述的性能测试系统，其特征在于，还包括：

第二重置模块，用于当获取特定数据块信息的写操作测试结果后，将所述写指针重置到所述逻辑区块地址的起始位置；

计算模块，用于根据下一数据块的大小，重新计算所述写指针的偏移量；

写操作模块，用于按照所述偏移量，控制所述写指针对所述下一数据块进行写操作，依次执行上述步骤，直至获取到所述SMR磁盘中每个所述特定数据块信息的写操作测试结果。