[发明专利]一种SMR硬盘的性能测试方法和系统

说明书

本发明公开一种SMR硬盘的性能测试方法和系统，其中，SMR硬盘的性能测试方法包括：查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息；将写指针重置到逻辑区块地址的起始位置；使用libzbc库包含的测试工具，控制写指针从起始位置对SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试；根据写操作性能测试的测试结果，生成测试日志。本发明的技术方案能解决现有技术中SMR硬盘写数据不准确的问题。

技术领域

本发明涉及服务器技术领域，尤其涉及一种SMR硬盘的性能测试方法和系统。

背景技术

叠瓦式磁记录SMR硬盘是一种采用新型磁存储技术的高容量硬盘。SMR硬盘能够将盘片上的数据磁道部分重叠，就像屋顶上的瓦片一样，因此SMR硬盘采用的技术被称为叠瓦式磁记录技术。该技术在制造工艺方面的变动非常微小，但却可以大幅提高磁盘存储密度。在数据量飞速增长的当今世界，SMR技术可以有效降低单位容量的磁盘存储成本，是未来高密度磁盘存储技术的发展潮流。

SMR硬盘的读行为和普通磁盘相同，但是它的写行为有了巨大的变化：不再支持随机写和原地更新写。这是由于SMR盘上新写入的磁道会覆盖与之重叠的所有磁道，从而摧毁磁道上原有的数据；换言之，相较传统硬盘而言，SMR盘不再支持随机写，只能进行顺序追加写。

上述SMR硬盘的写入方式的限制，给SMR硬盘的存储使用带来了巨大挑战。现有的硬盘性能测试方法通常是针对垂直式磁记录PMR和纵向或称水平的磁记录LMR硬盘的，通常使用fio工具以及libaio引擎对待测硬盘进行顺序、随机或者混合读写测试。然而因为现有技术不支持libzbc库，测试时会从C-Zone开始写，导致测试出来的SMR硬盘数据不准确。

发明内容

本发明提供了一种SMR硬盘的性能测试方法和系统，旨在解决现有技术中SMR硬盘写数据不准确的问题。

根据本发明的第一方面，本发明提供了一种SMR硬盘的性能测试方法，包括：

查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息；

将写指针重置到逻辑区块地址的起始位置；

使用libzbc库包含的测试工具，控制写指针从起始位置对SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试；

根据写操作性能测试的测试结果，生成测试日志。

优选地，上述查询SMR硬盘的逻辑区块地址和数据块信息的步骤，包括：

查询SMR硬盘的逻辑区块地址的起始位置和大小；以及，

查询数据块信息所包含所有数据块的数量和位置。

优选地，上述控制写指针从起始位置对SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作性能测试的步骤，包括：

根据起始位置，计算写指针到SMR硬盘中特定数据块信息的偏移量；

使用libzbc库包含的测试工具，控制写指针跳过SMR硬盘的C-Zone数据块信息；

根据偏移量，控制写指针从起始位置开始依次对SMR硬盘的特定数据块信息进行写操作。

优选地，上述根据写操作性能测试的测试结果，生成测试日志的步骤，包括：

使用libzbc库包含的测试工具，获取每个特定数据块信息的写操作测试结果；

将写操作测试结果生成测试日志并按预定格式存储至数据库中。

优选地，上述性能测试方法，还包括：

当获取特定数据块信息的写操作测试结果后，将写指针重置到逻辑区块地址的起始位置；

根据下一数据块的大小，重新计算写指针的偏移量；