[发明专利]一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法

权利要求书

1.一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试系统，其特征在于，包括N通道MOSFET管、驱动器电路、多个电阻以及多个继电器，其中：N通道MOSFET管的栅极通过电阻R1连接测试机的数字通道，N通道MOSFET管的漏极分别连接驱动器电路的逻辑输入端IN以及通过电阻R2连接测试机的普通电源端FOVI-0，驱动器电路的高端电源供电端VB连接测试机的浮动电源FPVI-0的H端，驱动器电路的高端悬浮偏移电压端VS通过继电器K3连接测试机的高压源HVIK的H端，测试机的浮动电源FPVI-0的H端通过继电器K2连接测试机的高压源HVIK的H端，测试机的浮动电源FPVI-0的L端通过继电器K1连接测试机的高压源HVIK的H端。

2.一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法，其特征在于，将测试机输出的方波通过N通道MOSFET管输入到驱动器电路，将驱动器电路的高端电源供电端VB、高端悬浮偏移电压端VS、测试机的浮动电源FPVI-0以及测试机的高压源HVIK之间通过不同的继电器进行连接，通过控制不同继电器的通断，分别实现对驱动器电路的交流参数、高压漏电参数进行测试以及短路脉冲电流的测试。

3.根据权利要求2所述的一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法，其特征在于，对驱动器电路的交流参数进行测试，具体为：

设置驱动器电路的逻辑输入端IN的电压阈值A和输出端的电压阈值B，当逻辑输入端IN的电压值达到阈值A时，此时的时间作为参考时间1，当输出端的电压值达到阈值B时，此时的时间作为参考时间2，参考时间2与参考时间1的差值为待测试的交流参数。

4.根据权利要求2所述的一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法，其特征在于，对驱动器电路的高压漏电参数进行测试，具体为：

通过控制继电器K2，使将高端电源供电端VB和高端悬浮偏移电压端VS通过继电器进行短接，将高端悬浮偏移电压端VS通过继电器K3连接到高压源HVIK，通过高压源HVIK给VB和VS同时提供高压，测试此时的VB和VS上的电流之和，即为待测试的高压漏电参数。

5.根据权利要求2所述的一种高压、大电流高端悬浮驱动器电路测试方法，其特征在于，对驱动器电路的短路脉冲电流进行测试，具体为：

在驱动器电路的输出端连接一个电阻，通过测试机的数字通道给N通道MOSFET管的栅极输入方波，在N通道MOSFET管的漏极获得反向的方波，将漏极连接到驱动器电路的逻辑输入端IN，在驱动器电路的输出端按照采样周期、采样间隔采集一个周期内或多个周期内输出波形的电压值，并计算采集的电压平均值，通过平均电压值与电阻阻值之比，即为待检测的短路脉冲电流。